探針的定義以及分類(lèi)

探針是用于測(cè)試PCBA的一種測(cè)試針，表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3萬(wàn)~10萬(wàn)次的高性能彈簧。

中文名 探針 外文名 probe 產(chǎn)品屬性 電子科技產(chǎn)品 產(chǎn)品用途 測(cè)試PCBA 主要類(lèi)型 懸臂探針、垂直探針

國(guó)外比較有名的生產(chǎn)廠家有： QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT

探針的材質(zhì)：W，ReW,CU、 A+

1.主要采用的材質(zhì)為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長(zhǎng)，壽命一般。

2. A+材質(zhì)的免清針，這種材質(zhì)彈性較好，測(cè)試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長(zhǎng)。

探針的作用很大，所以其測(cè)試要求高，荷重行程接觸電阻壽命都是比較重要的參數(shù)，所以需要用探針荷重行程阻抗試驗(yàn)機(jī)測(cè)試。若有需要可以咨詢(xún)微克檢測(cè)設(shè)備有限公司

探針?lè)诸?lèi)

探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為：

A、光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開(kāi)路、短路檢測(cè)探針，國(guó)內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品；

B、在線測(cè)試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針；產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品；

C、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針，核心技術(shù)還是掌握在國(guó)外公司手中，國(guó)內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā)，但只有一小部分成功生產(chǎn)。

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