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粒度儀

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  • 型號(hào) SY.74-WQL
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 北京市
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更新時(shí)間:2016-02-19 11:07:59瀏覽次數(shù):972

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粒度儀 型號(hào) SY.74-WQL
應(yīng)用范圍:儀器基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測(cè)定顆粒的粒度大小及分布,采用變速測(cè)定方式,使1次測(cè)量的粒度范圍比大于20:1。......

詳細(xì)介紹

粒度儀 應(yīng)用范圍

儀器基于固體顆粒的離心沉降和光透射原理測(cè)定顆粒的粒度大小及分布,采用變速測(cè)定方式,使1次測(cè)量的粒度范圍比大于20:1。

粒度儀 性能指標(biāo):

轉(zhuǎn)速范圍:600~10000r/min

光信號(hào)穩(wěn)定性:0.2%/30min

可測(cè)粒度范圍:0.01~60μm

測(cè)試準(zhǔn)確度:5% (使用原上海測(cè)試技術(shù)研究院所提供的二氧化硅標(biāo)樣)

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