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OLED/QLED 發(fā)光器件壽命測試系統(tǒng)
  • OLED/QLED 發(fā)光器件壽命測試系統(tǒng)
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貨物所在地:北京北京市

更新時間:2024-10-29 21:00:08

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OLED/QLED 發(fā)光器件壽命測試系統(tǒng) 通道數(shù)量:32、64、128,可擴(kuò)展到512 路;測量模式1:恒流、恒壓、恒亮度,需根據(jù)客戶需求選定

OLED/QLED 發(fā)光器件壽命測試系統(tǒng) 

32 路系統(tǒng)                              64 路系統(tǒng)

OLED/QLED 發(fā)光器件壽命測試系統(tǒng) 

項目

關(guān)鍵指標(biāo)

備注

通道數(shù)量

32、64、128

可擴(kuò)展到512 路

測量模式1

恒流、恒壓、恒亮度

需根據(jù)客戶需求選定

測量模式2

Pulse 電壓、Pulse 電流

選配

電流輸出

0.03uA~100mA,精度優(yōu)于±1%

用戶參照核心技術(shù)電流源選配

電壓輸出

飽和亮度

1.0~20V,精度<±1% 通常10000cd/m2 以上

標(biāo)配

可根據(jù)客戶需求定制

器件結(jié)構(gòu)

底發(fā)光、頂發(fā)光、倒裝、正裝

需根據(jù)用戶需求定制

測試盒/ 夾具

測試基片尺寸 5cm×5cm

可定制支持20cm×20cm

高溫測試

RT+10 度~100 度;-50 度~100 度;環(huán)境測試

選配

特殊條件

特殊氣氛測試;手套箱測試;UPS 電源等

選配、定制

軟件平臺

LabView

穩(wěn)定、高效

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