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貨物所在地:北京北京市
所在地: 英國
更新時間:2024-08-28 21:00:01
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材 料 | 能量范圍 | 每單位能量的信號輸出 | 信號衰減時間常數(shù) | 備 注 |
Silicon | 5~25keV | zui高,直接轉(zhuǎn)化 | 1us(非偏置) | 光電二管直接探測,不需要閃爍晶體 |
Gadox (Tb) | 20~100keV | 類似于CsI | 2 -3ms | 熒光條,無法進行像素分隔來防止串擾 |
CsI (Tl) | 40~160keV | 光轉(zhuǎn)換效率 | 2個不同的衰減時間,微秒級 | 像素被分隔成陣列,以減少串擾 |
CdWO4 | 150~9MeV | zui低,約為CsI的25% | 20us | 像素被分隔成陣列,以減少串擾,費用zui高 |
探測器間距 | 0.4mm,0.8mm,1.6mm,2.5mm |
晶體類型 | Silicon,Gadox (Tb),CsI (Tl),CdWO4 |
積分時間(單次采樣) | 100us – 50ms |
信噪比 | 30000:1 (XDAS-V2-1.6,不帶探測器,10pF) 25000:1 (XDAS-V2-1.6,帶上探測器,10pF) |
zui大數(shù)據(jù)讀出速率 | 20MB/s |
串擾 | <0.1%(10pC增益) |
數(shù)據(jù)輸出位 | 16 Bit |
輸出接口 | USB、千兆以太網(wǎng)或標準圖像采集卡 |
產(chǎn)品優(yōu)勢 | 帶給用戶的好處 |
采用的小信號搜集技術(shù),產(chǎn)品質(zhì)量好,性能穩(wěn)定 | 提升用戶產(chǎn)品的性能及穩(wěn)定性,降低售后維護成本 |
多種探測器間距(0.4mm,0.8mm,1.6mm,2.5mm等)、單能/雙能可選,晶體的種類和尺寸可選 | 可應用的領(lǐng)域更廣 |
模塊化設計,每套系統(tǒng)中zui多包含7塊SP板,每塊SP板可連接24塊DH板,zui高21500個探測通道 | 用戶系統(tǒng)設計靈活,可大可小,非常方便 |
16bit 數(shù)據(jù)輸出 | 動態(tài)范圍更寬,可看到更多的細節(jié) |
信噪比高,不帶探測器的信噪比可達30000:1 | 得到的圖像更加清晰 |
掃描速度快,100us的脈沖成型時間 | 能高速成像應用的要求 |
多種信號輸出接口可選 | 系統(tǒng)配置豐富 |
探測器間距 | 2.5mm,其他尺寸可根據(jù)客戶要求定制 |
晶體類型 | Silicon,Gadox (Tb),CsI (Tl),CdWO4 |
積分時間(單次采樣) | 320us – 1s |
電子噪聲 | 6ppm (不帶探測器,350pC) 25ppm (帶上探測器,350pC) |
zui大數(shù)據(jù)讀出速率 | 40MB/s |
線性 | <0.1% |
A/D轉(zhuǎn)換位 | 20 Bit |
輸出接口 | USB, PCI數(shù)據(jù)采集卡或千兆以太網(wǎng) |