在金相分析中圖像分析儀的應(yīng)用

    近年來，隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)和體視學(xué)的發(fā)展，圖像分析儀被廣泛地應(yīng)用于金相分析中，使傳統(tǒng)的金相分析技術(shù)從定性或半定量的工作狀態(tài)逐步向定量金相分析方向發(fā)展。
圖像分析儀在金相分析中的應(yīng)用
1.測(cè)定脫碳層、滲碳層深度
    測(cè)定脫碳層及滲碳層深度：首先測(cè)定基體組織的鐵素體含量，然后在屏幕上劃一條平行于表面并可移動(dòng)的直線，計(jì)算通過該直線的鐵素體含量，隨著直線向心部移動(dòng)，當(dāng)找到與基體組織中鐵素體含量相符的區(qū)域時(shí)，該直線距表面的距離即為脫碳層或滲碳層深度。
2.側(cè)定顯微緣織的含量
定量地測(cè)定金屬材料中的顯微組織的百分比等參數(shù)，并研究其對(duì)機(jī)械性能的影響是圖像分析儀在金相分析中的主要用途之一。例如：測(cè)定灰鑄鐵、球鐵、鑄鋼及低碳鋼中的鐵素體和珠光體的百分比;雙相鋼中的馬氏體與鐵素體的百分比;參碳淬火硬化層等。使用圖像分析儀的能很方便地完成這些工作。若對(duì)某種材料的不同基體組織進(jìn)行定量金相分析，并與其機(jī)械性能對(duì)照，可深人研究顯微組織與機(jī)械性能之間的定量對(duì)應(yīng)關(guān)系。3 晶拉度的測(cè)定
3.測(cè)量晶粒度是金相檢驗(yàn)工作中經(jīng)常進(jìn)行的檢驗(yàn)項(xiàng)目。多年以來的檢測(cè)方法是參照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中的標(biāo)準(zhǔn)圖片，采用與標(biāo)準(zhǔn)圖片相比較的方法評(píng)定出晶粒度級(jí)別，此方法簡(jiǎn)便、速度快，但主觀上的誤差也比較大。若采用標(biāo)準(zhǔn)GB/T6394一1986規(guī)定的另外兩種方法，即面積法和截點(diǎn)法（仲裁法），雖然可獲得準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果，但這兩種方法使用起來很不方便，過程繁瑣。如果使用圖像分析儀采用截點(diǎn)法進(jìn)行晶粒度測(cè)定，則可以直接而迅速地求出晶粒度級(jí)別。
    截點(diǎn)法是通過統(tǒng)計(jì)給定長(zhǎng)度的測(cè)量網(wǎng)格上的晶界截?cái)?shù)來測(cè)定晶粒度的，其晶粒度級(jí)別指數(shù) G的計(jì)算公式為：G= -3.2877+ 6.6439Lg（M x N/L）
    式中L—所使用的測(cè)量網(wǎng)格長(zhǎng)度（mm）
    M—觀察用的放大倍數(shù)
    N—測(cè)量網(wǎng)格L上的截點(diǎn)數(shù)
    L\M為已知數(shù)，只需測(cè)得N，圖像分析儀就可以得出晶粒度級(jí)別。在實(shí)測(cè)工作時(shí)，由于晶粒內(nèi)部可能存在各種析出物以及因腐蝕控制不當(dāng)而造成晶界斷裂，將準(zhǔn)確測(cè)定帶來一定的困難，需采用圖像分析儀中的腐蝕與膨脹功能，去除晶粒內(nèi)的析出物和對(duì)晶界進(jìn)行重建，以得到完整的晶粒圖像。
    圖像分析儀所擁有的“晶粒度評(píng)級(jí)”軟件均是采用GB/T6394一1986中的截點(diǎn)法作為晶粒度評(píng)定方法。
4 測(cè)定非金屬夾雜物
    圖像分析儀用于分析非金屬夾雜物，主要在兩方面：其一為測(cè)定非金屬夾雜物的數(shù)量、形態(tài)、尺寸、分布等參數(shù)，研究夾雜物與機(jī)械性能之間的定量關(guān)系;其二是根據(jù)GB/T10561一1989標(biāo)準(zhǔn)評(píng)定鋼中非金屬夾雜物級(jí)別。
    根據(jù)GB/T10561—1989標(biāo)準(zhǔn)編制而成的夾雜物評(píng)級(jí)軟件，其主要功能可對(duì)所要測(cè)定的夾雜物，依據(jù)GB/T10561—1989標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的4類夾雜物進(jìn)行分類，然后參照標(biāo)準(zhǔn)給予評(píng)級(jí)。