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x射線熒光鍍層測厚儀的原理和應(yīng)用
閱讀：4818 發(fā)布時(shí)間：2019-11-28
x射線熒光鍍層測厚儀可以檢測鍍金層、鍍鎳層、鍍鋅層、鍍鉻層、鍍銀層、鍍銅層、鍍錫層的厚度。
x射線熒光鍍層測厚儀的原理：
X射線或粒子射線經(jīng)物質(zhì)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析
x射線熒光鍍層測厚儀的應(yīng)用領(lǐng)域：
1、黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
2、金屬鍍層的厚度測量 電鍍液和鍍層含量的測定。
3、貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。