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波長色散X射線熒光光譜儀具有哪些優(yōu)點(diǎn)？
閱讀：1673 發(fā)布時間：2022-5-9
波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發(fā)待測物質(zhì)中的原子，使之產(chǎn)生熒光（次級X射線），從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器，主要用于化學(xué)、材料科學(xué)、化學(xué)工程領(lǐng)域。
波長色散X射線熒光光譜儀的原理：
XRF是基于X射線的一種分析手段，當(dāng)一束高能粒子與原子相互作用時，如果其能量大于或等于原子某一軌道電子的結(jié)合能，將該軌道電子逐出，形成一個空穴使原子處于激發(fā)態(tài)，由于激發(fā)態(tài)不穩(wěn)定，外層電子向空穴躍遷使原子恢復(fù)到平衡態(tài)，躍遷時釋放出的能量以輻射的形式放出便產(chǎn)生X熒光。X熒光具有特征的波長，對應(yīng)的即是特征的能量，通過對光子的特征波長進(jìn)行辨識，XRF能實(shí)現(xiàn)對元素的定性分析，通過探測特征波長的X射線光子的強(qiáng)度，實(shí)現(xiàn)元素的定量和半定量分析。
具有以下優(yōu)點(diǎn)：
1、分析速度高。測定用的時間與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
2、X射線熒光光譜儀跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定。
3、非破壞分析。在測定中不會引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
4、X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
5、分析精密度高。
6、制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。