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金屬電鍍層厚度分析儀Thick800a儀器廠家

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參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號 Thick800a
  • 品牌 SanX/三翔
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 深圳市
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更新時間:2024/01/08 16:15:44瀏覽次數(shù):982

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產(chǎn)品簡介

價格區(qū)間 面議
金屬電鍍層厚度分析儀Thick800a儀器廠家,儀器采用能量色散X熒光FpThick軟件,良好的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應(yīng)用軟件,具有高靈敏度、測試時間短、一鍵智能化操作。譜圖區(qū)域采用動態(tài)模式,測試時元素觀察更直觀。軟件具有多種測試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式自由添加,內(nèi)置強(qiáng)度校正方法,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。

詳細(xì)介紹

實驗表明,使用Thick800A 金屬電鍍層厚度分析儀對鍍件膜厚測試,結(jié)果準(zhǔn)確度高,速度快(幾十秒),其測試效果*可以和顯微鏡測試法媲美。

 

金屬電鍍層厚度分析儀是對材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測量的rel="nofollow" 儀器,測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。測試方法主要分為:電渦流法、磁感應(yīng)法、金相法、庫侖法以及X射線熒光法。今天,我們主要為您講解后三種方法的區(qū)別以及關(guān)系。

 

應(yīng)用X熒光法的優(yōu)勢

1.緊固件螺絲鍍層測厚儀樣品處理方法簡單或無前處理

2.可快速對樣品做定性分析

3.對樣品可做半定量或準(zhǔn)定量分析

4.譜線峰背比高,分析靈敏度高

5.不破壞試樣,無損分析

6.試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等)

7.設(shè)備可靠、維修、維護(hù)簡單

8.快速:一般測量一個樣品只需要1~3分鐘,樣品可不處理或進(jìn)行簡單處理。

9.無損:物理測量,不改變樣品性質(zhì)

10.準(zhǔn)確:對樣品可以分析

11.直觀:直觀的分析譜圖,元素分布一幕了然,定性分析速度快

12.環(huán)保:檢測過程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水


 

 1、測量原理比較

測試方法 測試原理 
金相法 利用金相顯微鏡放大橫截面的原理,對鍍層厚度放大,進(jìn)行觀測及測量。 
庫侖法 利用適當(dāng)?shù)碾娊庖宏枠O溶解限定面積的覆蓋層,根據(jù)所耗的電量計算出覆蓋層的厚度。 
X射線光譜法 利用X射線與基體和覆蓋層的相互作用產(chǎn)生的離散波長和能量的二次輻射強(qiáng)度與覆蓋層單位面積質(zhì)量之間存在一定的關(guān)系。根據(jù)校正標(biāo)準(zhǔn)塊提供的單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正這一關(guān)系,給出覆蓋層線性厚度。 

 2、標(biāo)準(zhǔn)、要求、儀器的選型

測試方法 參考標(biāo)準(zhǔn) 樣品要求 儀器 
金相法 ASTM B487;GB/T 6462  鍍層厚度不小于1um 切割機(jī)、真空浸漬儀、研磨機(jī)、金相顯微鏡 
庫侖法 ASTM B764;GB/T4955  平面不小于5mm2電解測厚儀 
X射線光譜法 ASTM B568; GB/T16921 測試面積大于0.05×0.25mm X-ray鍍層測厚儀

 3、測試因素比較

 金相法 庫侖法 X射線光譜法 
測試范圍 >1um 0~35um 重金屬0~10um 、其它0~35um 
測試精度 高 稍差 高 
制樣 制樣復(fù)雜 配置不同電解液 簡單 
工件損傷 有損 有損 無損 
操作方法 操作復(fù)雜 復(fù)雜 簡單 
測試效率 非常低 低 高 
層數(shù) 不限 單層和Cr/Ni/Cu復(fù)合鍍層 多5層 
鍍層預(yù)知 不需要 需要 需要 
合金鍍層厚度 可測 不可測 可測 
合金成分 EDS聯(lián)用 不可測 可測 
溶液成分測試 不可測 不可測 可測 
人為因素 影響大 影響大 影響小 
價格 較高 低 高 

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