XRF熒光光譜儀EDX4500H

產(chǎn)品介紹

該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。

另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。

XRF熒光光譜儀EDX4500H性能特點(diǎn)

高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國際良好水平

新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好

SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比

低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好

智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測試的范圍

自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性

高信噪比的電子線路單元

針對不同樣品自動切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣

解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度

多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制

內(nèi)置高清晰攝像頭

液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

XRF熒光光譜儀EDX4500H技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號：EDX 4500H

產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀

測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）

元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）

同時分析元素：一次性可測幾十種元素

測量時間：30秒-200秒

探測器能量分辨率為：145±5eV

管壓：5KV-50KV

管流：50μA-1000μA

測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體

輸入電壓：AC 110V/220V

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境濕度：35%-70%

樣品腔體積：320mm×100mm

外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

高效超薄窗X光管

SDD硅漂移探測器

數(shù)字多道技術(shù)

光路增強(qiáng)系統(tǒng)

高信噪比電子線路單元

內(nèi)置高清晰攝像頭

自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片

自動穩(wěn)譜裝置

三重安全保護(hù)模式

可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)

90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏

真空泵

應(yīng)用領(lǐng)域

XRF熒光光譜儀合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）