手持式XRF光譜儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

1.關(guān)于一體化設(shè)計(jì)我公司手持式四代Genius 5000手持式XRF光譜儀采用的是顯示器與主機(jī)*一體，也是一體機(jī)設(shè)計(jì)，顯示屏可以上下90度和左右270度旋轉(zhuǎn)，戶外使用時(shí)可防止屏幕反光，使數(shù)據(jù)查看更清晰，方便客戶從各個(gè)角度觀看。實(shí)現(xiàn)了真正的一體化設(shè)計(jì)。

2.關(guān)于內(nèi)置校準(zhǔn)片我公司生產(chǎn)的Genius 系列均采用的內(nèi)置Ag校準(zhǔn)片功能。無(wú)需再采用外部的校準(zhǔn)片。直接通過(guò)操作軟件就可以直接進(jìn)行設(shè)備的能量校準(zhǔn)工作，使用方便。

3.關(guān)于可操作便捷性我公司生產(chǎn)的Genius手持式XRF光譜儀系列開(kāi)機(jī)時(shí)間只需要半分鐘就完成了儀器的開(kāi)機(jī)和數(shù)據(jù)的加載工作。Genius系列采用了第四代數(shù)字多道處理器，提高了每秒計(jì)數(shù)率，從原來(lái)的幾千達(dá)到幾萬(wàn)計(jì)數(shù)率，增大了統(tǒng)計(jì)掌握，減少了統(tǒng)計(jì)誤差，并縮短了測(cè)試時(shí)間。10秒即可以完成穩(wěn)定的測(cè)試；對(duì)于屏幕菜單設(shè)計(jì)上，我公司采用了分級(jí)操作權(quán)限，的用戶界面，一鍵化的操作，直觀的顯示，智能傻瓜式的操作。智能化體現(xiàn)：譜圖自動(dòng)定性分析，元素的自動(dòng)排序，測(cè)試元素達(dá)到三十多個(gè)元素，并采用了FP的軟件核心算法有效校正了合金樣品中元素間的增強(qiáng)吸收作用。（對(duì)于合金品的測(cè)試尤為重要）。

4.關(guān)于應(yīng)用軟件我司的Genius系列的地礦分析軟件的核心采用了北美研發(fā)核心團(tuán)隊(duì)的設(shè)計(jì)，在原有的算法基礎(chǔ)上并植入了FP算法。并將該算法成功應(yīng)用于合金元素的分析中，有效校正了合金材料中元素間的增強(qiáng)吸收作用，并解決了使用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法無(wú)法解決的相似標(biāo)樣的問(wèn)題。

5.關(guān)于合金樣品測(cè)試的準(zhǔn)確度合金行業(yè)是個(gè)龐大體系，不同的行業(yè)不同的應(yīng)用對(duì)測(cè)量的要求不同，作為生產(chǎn)控制，測(cè)量的樣品即時(shí)生產(chǎn)的樣品，樣品相對(duì)單一，可以使用EDX4500等臺(tái)式儀器，使用類似標(biāo)樣采用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法就相關(guān)樣品進(jìn)行測(cè)試，儀器的穩(wěn)定性好，測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確度高。如沒(méi)有類似的國(guó)家標(biāo)樣，可選擇使用FP法(基本參數(shù)法)對(duì)樣品測(cè)試，根據(jù)測(cè)試結(jié)果調(diào)整生產(chǎn)。若作為質(zhì)量控制，與材料甄別來(lái)使用，則無(wú)需片面強(qiáng)調(diào)儀器的精確度和準(zhǔn)確度，使用Genius5000手持式XRF光譜儀，配備基本參數(shù)法就可以進(jìn)行較為準(zhǔn)確的測(cè)試。

6.關(guān)于XRF與其他設(shè)備對(duì)比結(jié)果差異鑒于儀器測(cè)量結(jié)果與SGS檢測(cè)結(jié)果存在很大差異，我司認(rèn)為有以下幾個(gè)方面：首先,化學(xué)方法與物理方法檢測(cè)的差異性。從SGS測(cè)試報(bào)告來(lái)看，對(duì)樣品采用ICP光譜法，按照IEC62321 Ed.1標(biāo)準(zhǔn),可用ICP-AES(電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜)和ICP-MS(電感耦合等離子體質(zhì)譜)或AAS(原子吸引光譜)三種方法對(duì)PB含量進(jìn)行檢測(cè)。而針對(duì)不同基體中的Pb含量，用不同的消解方法。X熒光對(duì)Pb的檢測(cè)是X 光通過(guò)照射樣品表面，在一定厚度范圍內(nèi)，激發(fā)原子而產(chǎn)生X射線作為分析檢測(cè)的依據(jù)。二者工作原理*不同。其次影響測(cè)量結(jié)果的因素不同，ICP法的前期抽樣工作對(duì)操作者要求很高，對(duì)*終結(jié)果影響也很能大。而XRF分析方法主要受表層材質(zhì)與內(nèi)部材質(zhì)的不同，以及雜質(zhì)含量的不均勻的影響。再次，相同原理的XRF檢測(cè)儀器對(duì)樣品的測(cè)量結(jié)果比較相近，建議貴司對(duì)樣品封存，與其他同類的XRF檢測(cè)量結(jié)果作對(duì)比 

7.樣品前處理方法,熒光測(cè)試屬于表面測(cè)試，測(cè)試的樣品表面必須能夠表征材料的內(nèi)部元素組成情況。因此在合金樣品測(cè)試前需要對(duì)樣品的表面進(jìn)行處理。目的是去除樣品表面的氧化層，油漆層，電鍍層等。合金樣品的測(cè)試一般有兩種方式：對(duì)于硬度較高的合金樣品（如鋼鐵類或鈦合金等），使用光譜磨樣機(jī)對(duì)表面進(jìn)行打磨處理。如進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，無(wú)法使用光譜磨樣機(jī)，則可以使用小型砂輪機(jī)對(duì)樣品表面進(jìn)行打磨處理。對(duì)于硬度較低的合金樣品（如銅合金，鋁合金等），可使用小型車床將樣品表面進(jìn)行處理?，F(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，也可使用小型砂輪機(jī)或小鋼挫對(duì)樣品表面進(jìn)行打磨處理。

Genius5000手持式XRF光譜儀