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產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
X射線熒光膜厚儀Thick800a生產(chǎn)廠家配件
開放式樣品腔,滿足大樣品測試
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
X射線熒光膜厚儀配備Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)(可以保存和實(shí)時(shí)打?。?/span>
X射線熒光膜厚儀Thick800a生產(chǎn)廠家參數(shù)規(guī)格
型號:Thick 800AX射線熒光膜厚儀
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
定位激光確定定位光斑,確保測試點(diǎn)與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護(hù)
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測試高度
產(chǎn)品用途
X射線熒光膜厚儀應(yīng)用于金屬鍍層的厚度(鍍銀、鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍鉻、鍍鈀等)測量、電鍍液和鍍層含量的測定,端子連接器、LED、半導(dǎo)體、衛(wèi)浴潔具、PCB、電子電器、氣配五金、珠寶首飾、汽車配件、制冷設(shè)備、檢測機(jī)構(gòu)以及研究所和高等院校等衛(wèi)浴等行業(yè)。