國(guó)產(chǎn)X光鍍層測(cè)厚儀Thick800a

國(guó)產(chǎn)X光鍍層測(cè)厚儀Thick800a性能詳解

X光鍍層測(cè)厚儀具有更好的性能和便宜的價(jià)格，國(guó)產(chǎn)XRF的制造廠家。在金屬鍍層檢測(cè)行業(yè)，*50%。天瑞儀器的X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀型號(hào)THick800A是鍍層檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)型號(hào)。 

X光鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品介紹主要用于電鍍層厚度檢測(cè)，高精度，快速簡(jiǎn)便。Thick800A是我公司研制的即使在客戶(hù)遇到*嚴(yán)格的測(cè)試要求時(shí)也能夠?qū)崿F(xiàn)測(cè)厚精度。儀器操作快速、方便，高效，配備移動(dòng)平臺(tái)，可全自動(dòng)軟件操作，并進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)試，檢測(cè)結(jié)果更加精準(zhǔn)。國(guó)產(chǎn)X射線(xiàn)熒光鍍層測(cè)厚儀為什么好快速：1分鐘就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度，并達(dá)到測(cè)量精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機(jī)型采用進(jìn)口國(guó)際上的電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器，能量分辨率更優(yōu)于135eV，測(cè)試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補(bǔ)充液氮，操作使用更加方便，并且運(yùn)行成本比同類(lèi)的其他產(chǎn)品更低。
無(wú)損：測(cè)試前后，樣品無(wú)任何形式的變化。
直觀：實(shí)時(shí)譜圖，可直觀顯示元素含量。
測(cè)試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無(wú)關(guān)。對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析,抽真空可以測(cè)試從Na到U。
可靠性高：由于測(cè)試過(guò)程無(wú)人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以，其測(cè)量的可靠性更高。
滿(mǎn)足不同需求：測(cè)試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強(qiáng)大，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài)，設(shè)定儀器參數(shù)，并就有多種良好的分析方法，工作曲線(xiàn)制作方法靈活多樣，方便滿(mǎn)足不同客戶(hù)不同樣品的測(cè)試需要。
性?xún)r(jià)比高：相比化學(xué)分析類(lèi)儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢(shì)的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。
簡(jiǎn)易：對(duì)人員技術(shù)要求較低，操作簡(jiǎn)單方便,并且維護(hù)簡(jiǎn)單方便。

國(guó)產(chǎn)X光鍍層測(cè)厚儀Thick800a技術(shù)指標(biāo)

元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層

一次可同時(shí)分析多達(dá)五層鍍層
*薄可測(cè)試0.005μm
分析含量一般為2ppm到99.9% 
鍍層厚度一般在50μm以?xún)?nèi)（每種材料有所不同）
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線(xiàn)性回收程序
長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性高

工作環(huán)境：
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg