基本型提供不同形狀和溫度條件下所需的樣品支架。選配低溫（液氮）附件結(jié)合高溫爐（zui高溫度可達(dá)240°C）可保證所有應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)境條件下的測(cè)試。永磁體和電磁鐵可提供高達(dá)數(shù)個(gè)特斯拉強(qiáng)度的固定或者可變磁場(chǎng)。

基于測(cè)量軟件可顯示的視窗內(nèi)容包括I-V 和 I-R 數(shù)據(jù)圖.

系統(tǒng)可測(cè)試多種材料包括Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N 型或P型均可測(cè)量), 金屬膜, 氧化物等. 樣品測(cè)試時(shí)便可完成系統(tǒng)功能演示

特點(diǎn)

• 載流子濃度

• 電阻率

• 遷移率

• 電導(dǎo)率

• α (水平電阻值/垂直電阻值)

• 霍爾常數(shù)

• 磁致電阻