您好, 歡迎來到化工儀器網

| 注冊| 產品展廳| 收藏該商鋪

13958149917

technology

首頁   >>   技術文章   >>   X射線熒光光譜分析技術(XRF)深度解析:原理、應用與標準化操作指南

杭州天釗科技有限公司

立即詢價

您提交后,專屬客服將第一時間為您服務

X射線熒光光譜分析技術(XRF)深度解析:原理、應用與標準化操作指南

閱讀:232      發(fā)布時間:2025-3-7
分享:

技術原理

  1. 初級X射線激發(fā)系統(tǒng)
    由高功率X射線管產生連續(xù)譜系X射線,通過準直器聚焦后定向輻照樣品表面。入射X射線與樣品原子發(fā)生光電效應,致使K/L層電子發(fā)生電離形成空穴。

  2. 特征X射線發(fā)射機制
    激發(fā)態(tài)原子通過俄歇電子發(fā)射或特征X射線輻射兩種弛豫途徑釋放能量。其中,外層電子填補內層空位時釋放特定能量的熒光X射線,其波長遵循莫塞萊定律(Moseley's law),滿足公式√(1/λ)=k(Z?σ),形成元素指紋譜線。

  3. 多道能譜解析系統(tǒng)
    配置硅漂移探測器(SDD)或比例計數(shù)器,通過脈沖高度分析器將光子能量轉化為電信號。配合FP法(基本參數(shù)法)或經驗系數(shù)法進行解譜,實現(xiàn)ppm級元素定量檢測,檢出限達0.01%-0.1%。


應用場景拓展

  • 工業(yè)質檢:RoHS指令重金屬篩查(Cd/Pb/Cr??/Hg/BDE/PBB)、合金牌號鑒別(304/316不銹鋼)

  • 地質勘探:巖心原位多元素測繪(Fe/Cu/Au等成礦元素)

  • 環(huán)保監(jiān)測:土壤重金屬污染三維分布分析(As/Cd/Hg空間擴散模型)

  • 考古鑒定:青銅器Cu-Sn-Pb三元相圖構建輔助斷代


標準化操作規(guī)范

  1. 輻射安全管理體系

  • 執(zhí)行ALARA原則(合理可行輻射),工作區(qū)設置鉛屏蔽體(≥2mmPb當量)

  • 實時劑量監(jiān)測(控制區(qū)<2.5μSv/h,監(jiān)督區(qū)<0.5μSv/h)

  • 操作人員配備個人TLD劑量計,建立年度累積劑量檔案

  1. 樣品制備規(guī)程

  • 金屬樣品:碳化鎢研磨至Ra<0.8μm,消除表面偏析效應

  • 粉末樣品:硼酸鑲邊壓片法(壓力>20T,保壓120s)

  • 液體樣品:專用聚乙烯杯配合6μm聚酯膜密封防揮發(fā)

  1. 質量控制體系

  • 每日開機執(zhí)行能量校準(Cu-Kα:8.04keV,Ag-Kα:22.1keV)

  • 每周驗證檢出限(NIST SRM 610玻璃標樣)

  • 每季度進行重復性測試(RSD<1.5%)


技術優(yōu)勢總結
XRF技術憑借其非破壞性檢測(NDT)、多元素同步分析(Si-U全譜覆蓋)及秒級檢測速度,已成為現(xiàn)代材料分析的核心手段。配合微區(qū)聚焦技術(μ-XRF)可實現(xiàn)50μm級空間分辨率,結合同步輻射光源更可提升靈敏度至ppb級,在半導體缺陷檢測、鋰電池極片涂布均勻性評價等領域展現(xiàn)優(yōu)勢。

會員登錄

請輸入賬號

請輸入密碼

=

請輸驗證碼

收藏該商鋪

標簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個,單個標簽最多10個字符)

常用:

提示

您的留言已提交成功!我們將在第一時間回復您~
在線留言