TESCAN S8000場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡能夠滿足現(xiàn)今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求。TESCAN BrightBeam™SEM 鏡筒技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了無(wú)漏磁超高分辨成像，在所有束流范圍下保證束斑質(zhì)量，尤其在低能量下的成像有更優(yōu)異的表現(xiàn)。 TESCAN S8000 使用TESCAN Essence™電鏡軟件，采用了可定制化、簡(jiǎn)單明了的 用戶界面，使用以工作流為導(dǎo)向的向?qū)С绦颍僮鞲鼮楸憬?，任何用戶均可輕松快速獲得出色的圖像，在較短時(shí)間內(nèi)獲得所需數(shù)據(jù)，確保工作效率。

TESCAN S8000場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡是真正靈活的分析平臺(tái)，能得到具有*襯度的優(yōu)質(zhì)圖像。無(wú)論樣品是否導(dǎo)電、有無(wú)磁性、是有機(jī)還是無(wú)機(jī)材料，TESCAN S8000 均可提供理想的圖像，這得益于具有電子信號(hào)過(guò)濾功能的探測(cè)系統(tǒng)和可變真空環(huán)境的系統(tǒng)設(shè)計(jì)。

突出特點(diǎn)

創(chuàng)新的 BrightBeam™SEM 鏡筒技術(shù)，實(shí)現(xiàn)真正的超高分辨（UHR）

•  BrightBeam™SEM 鏡筒，電磁-靜電復(fù)合物鏡，配有70°極靴；
• 無(wú)磁場(chǎng)超高分辨成像，可以大化的實(shí)現(xiàn)各種分析，包括對(duì)磁性樣品的分析；
• 全新設(shè)計(jì)的探測(cè)器系統(tǒng)，包括鏡筒內(nèi)軸向探測(cè)器（ Axial detector ）以及可選擇不同角度和不同能量來(lái)收集信號(hào)的多功能探測(cè)器，以獲得不同的表面靈敏度和襯度；
• 新型場(chǎng)發(fā)射肖特基電子槍的大束流可達(dá)到 400 nA，同時(shí)可實(shí)現(xiàn)電子束能量的快速改變；
• 低電子束能量可達(dá) 50 V；
• 新一代電路系統(tǒng)可同時(shí)支持多達(dá) 8 個(gè)實(shí)時(shí)信號(hào)通道；
• EquiPower™透鏡技術(shù)可實(shí)現(xiàn)高效的散熱并保證電子鏡筒的穩(wěn)定性；
• 電子束減速技術(shù)（BDT）進(jìn)一步提高了低電壓下的分辨率，并能同時(shí)探測(cè) SE 和 BSE 信號(hào)（選配）；
•  Essence™電鏡軟件和簡(jiǎn)化的圖形用戶界面支持定制化的布局、面向工作流的向?qū)А?D 樣品室實(shí)時(shí)模擬圖、快速搜索框、SEM 撤銷/重做功能、新穎的報(bào)告模板編輯器、圖像處理等功能，同時(shí)有多種語(yǔ)言用于不同用戶環(huán)境。