GB/T 5170.9-1996

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GB/T 5170.9-1996是關(guān)于電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備 基本參數(shù)檢定方法 太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)。

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時(shí)的檢定項(xiàng)目、檢定用主要儀器、檢定條件、測(cè)量點(diǎn)數(shù)量及布放位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)GB/T 2423.24-1995《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Sa：模擬地面上的太陽輻射》所用試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。本標(biāo)準(zhǔn)也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。