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QZ-80G恒溫恒濕試驗箱,LED恒溫恒濕試驗箱
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  • QZ-80G恒溫恒濕試驗箱,LED恒溫恒濕試驗箱

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貨物所在地: 廣東東莞市
產(chǎn)地: 東莞市東城區(qū)
更新時間: 2024-10-26 10:01:45
期: 2024年10月26日--2026年4月13日
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產(chǎn)品簡介

QZ-80G恒溫恒濕試驗箱,是一款勤卓環(huán)測科技生產(chǎn)的80L體積的環(huán)境試驗設備,在行業(yè)有著非常好的技術口碑,在LED,五金,數(shù)碼,電池,電子方面有著非常重多的成功客戶。

詳細介紹


QZ-80G恒溫恒濕試驗箱,是一款勤卓環(huán)測科技生產(chǎn)的80L體積的環(huán)境試驗設備,在行業(yè)有著非常好的技術口碑,在LED,五金,數(shù)碼,電池,電子方面有著非常重多的成功客戶。

一,QZ-80G恒溫恒濕試驗箱介紹:恒溫恒濕試驗箱,可程式恒溫恒濕試驗機,恒溫恒濕箱中山珠海江門 超低濕試驗箱,除了可仿真產(chǎn)品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結(jié)露試驗)..等,去檢測產(chǎn)品本身的適應能力與特性是否改變,以及針對產(chǎn)品在(低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等)環(huán)境下是否會發(fā)生龜裂、破損,另外在低濕環(huán)境中的空氣靜電量是一般環(huán)境的30倍以上,據(jù)統(tǒng)計,半導體破壞率:59%是由靜電所引起的。
※ 需符合性規(guī)范之要求(IEC、S、GB、MIL…)以達到間量測程序*性(含測試步驟、條件、方法)避免認知不同,并縮小量測不確定的因素范圍發(fā)生。
二,工作室尺寸D×W×H 450×450×500  500×600×750  800×700×900  800×1000×1000  1000×1000×1000
溫度范圍:-20℃~150℃  (客戶可選溫度范圍)
濕度范圍:20~98%R.H
波動/均勻度:≤&plsmn;0.5℃/≤&plsmn;2℃
濕度偏差:+2、-3%R.H
升溫時間:0℃~100℃約35min
降溫時間:100℃~0℃約40min
控制器:進口微電腦溫濕度集成控制器
精度范圍:設定精度:溫度&plsmn;0.1℃、濕度&plsmn;1%R.H,指示精度:溫度&plsmn;0.1℃、濕度&plsmn;1%R.H


規(guī)范條件
執(zhí)行標準.中國標準分為強制性國標(GB)和推薦性國標(GB/T)
中國標準,GB 10586-89濕熱試驗箱技術條件  
中國標準,GB 10592-89高、低溫試驗箱技術條件  
中國標準,GB/T10589-1989低溫試驗箱技術條件  
   
滿足標準  
電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱  
電工委員會標準,IEC68-2-01_試驗方法A_冷  
電工委員會標準,IEC68-2-02_試驗方法B_干熱  

美國標準,MIL-STD-810F-507.4 濕度  
美國標準,MIL-STD-810F-501.4 高溫  
美國標準,MIL-STD-810F-502.4 低溫  
美國標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗  
美國標準,MIL-STD810D方法502.2  
美國標準,MIL-STD810方法507.2程序3  

日本工業(yè)標準,S C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài)  
日本工業(yè)標準,S C60068-2-2-1995 試驗B:干熱  
日本工業(yè)標準,S C60068-2-1-1995 試驗A:低溫  

美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗  
美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗  
美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗  

中國標準,GB/T 2423.1-2001 低溫  
中國標準,GB/T 2423.2-2001 高溫  
中國標準,GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法  
中國標準,GB2423.34-86 溫濕度組合循環(huán)試驗  
中國標準,GB/T2423.4-93方法  

中國環(huán)境試驗設備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗

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