（解析）環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的可靠性測(cè)試及測(cè)試條件

(解析）環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的可靠性測(cè)試及測(cè)試條件：
 
可靠性測(cè)試應(yīng)該在可靠性設(shè)計(jì)之后，但目前我國的可靠性工作主要還是在測(cè)試階段，這里將測(cè)試放在前面。為了測(cè)得產(chǎn)品的可靠度（也就是為了測(cè)出產(chǎn)品的MTBF），我們需要拿出一定的樣品，做較長時(shí)間的運(yùn)行測(cè)試，找出每個(gè)樣品的失效時(shí)間，根據(jù)*節(jié)的公式計(jì)算出MTBF，當(dāng)然樣品數(shù)量越多，測(cè)試結(jié)果就越準(zhǔn)確。但是，這樣的理想測(cè)試實(shí)際上是不可能的，因?yàn)閷?duì)這種測(cè)試而言，要等到zui后一個(gè)樣品出現(xiàn)故障――需要的測(cè)試時(shí)間長得無法想象，要所有樣品都出現(xiàn)故障——需要的成本高得無法想象。為了測(cè)試可靠性，這里介紹：加速測(cè)試（也就增加應(yīng)力*），使缺陷迅速顯現(xiàn)；經(jīng)過大量專家、長時(shí)間的統(tǒng)計(jì)，找到了一些增加應(yīng)力的方法，轉(zhuǎn)化成一些測(cè)試的項(xiàng)目。如果產(chǎn)品經(jīng)過這些項(xiàng)目的測(cè)試，依然沒有明顯的缺陷，就說明產(chǎn)品的可靠性至少可以達(dá)到某一水平，經(jīng)過換算可以計(jì)算出MTBF（因產(chǎn)品能通過這些測(cè)試，并無明顯缺陷出現(xiàn)，說明未達(dá)到產(chǎn)品的極限能力，所以此時(shí)對(duì)應(yīng)的MTBF是產(chǎn)品的zui小值）。其它計(jì)算方法見下文。（*應(yīng)力：就是指外界各種環(huán)境對(duì)產(chǎn)品的破壞力，如產(chǎn)品在85℃下工作受到的應(yīng)力比在25℃下工作受到的應(yīng)力大；在高應(yīng)力下工作，產(chǎn)品失效的可能性就大大增加了）；

測(cè)試條件：
不同的產(chǎn)品測(cè)試條件不一樣；就拿高溫測(cè)試來說，有些產(chǎn)品要求做高溫貯存測(cè)試，有些要求做高溫運(yùn)行測(cè)試，有些產(chǎn)品的高溫用85℃做測(cè)試，有些產(chǎn)品的高溫是用65℃做測(cè)試。但是，宗旨只有一個(gè)，那就是至少滿足國/行標(biāo)。要測(cè)試一種產(chǎn)品的可靠性，找到這種產(chǎn)品的國/行標(biāo)是必需的，按照國/行標(biāo)的要求和指引找出必須的測(cè)試項(xiàng)目與各項(xiàng)目的測(cè)試方法，從而進(jìn)行環(huán)境測(cè)試；同一種產(chǎn)品，在不同的階段，測(cè)試條件也不一樣；一般而言，產(chǎn)品會(huì)經(jīng)過研發(fā)、小批量試產(chǎn)、批量生產(chǎn)三個(gè)不同的階段。在研發(fā)階段，測(cè)試條件zui嚴(yán)（應(yīng)力zui大）、測(cè)試延續(xù)的時(shí)候zui短；小批量試產(chǎn)階段，測(cè)試應(yīng)力適中、測(cè)試時(shí)間適中；批量生產(chǎn)階段，測(cè)試應(yīng)力zui小、測(cè)試時(shí)間較短；三個(gè)階段的主要差別見下表：階段實(shí)驗(yàn)?zāi)康膶?shí)驗(yàn)特點(diǎn)實(shí)驗(yàn)要求研發(fā)發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷，擴(kuò)大設(shè)計(jì)余量高應(yīng)力、短時(shí)間*中試考察產(chǎn)品是否達(dá)到基本的可靠性水平中應(yīng)力、中長時(shí)間無明顯故障批量生產(chǎn)生產(chǎn)工藝條件的穩(wěn)定性低應(yīng)力、短時(shí)間有條件的允許故障發(fā)生鑒定鑒定產(chǎn)品的可靠性、計(jì)算產(chǎn)品的MTBF低應(yīng)力、長時(shí)間無特別要求