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能量色散X熒光光譜儀XTU-50B 鍍層膜厚分析儀說明書

時間：2018/1/22閱讀：2086
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能量色散X熒光光譜儀

XTU-50B 鍍層膜厚分析儀

 

目    錄 

 

一、產(chǎn)品型號

1.1 產(chǎn)品型號

二、儀器介紹

2.1 儀器概述

2.2 性能優(yōu)勢

2.3 技術(shù)指標(biāo)

三、儀器硬件主體配置

  3.1 設(shè)備外觀

  3.1 探測系統(tǒng)

  3.2 X光管

3.3 高壓電源

3.4 微動平臺

  3.5 高分辨率CCD­

  3.6 散熱系統(tǒng)

  3.7 防輻射安全系統(tǒng)

四、儀器軟件配置

  4.1 軟件界面

  4.2 功能特點(diǎn) 

五、儀器的外圍設(shè)備

  5.1 計算機(jī)

  5.2 噴墨打印機(jī)

5.2 儀器相關(guān)配件及技術(shù)資料

六、及售后服務(wù)

 

一、產(chǎn)品型號

1、產(chǎn)品型號

型號:  Ux-720 鍍層膜厚檢測儀

配置

探測器

X光管

高壓電源

XTU-50B

AMPTEK SDD型(美國進(jìn)口)

美國瓦里安公司進(jìn)口

Spellman(美國進(jìn)口)

 

 

二、儀器簡介

2.1 儀器概述

XTU-50B鍍層膜厚分析X射線熒光光譜儀是公司經(jīng)過3年研發(fā)，專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達(dá)克羅涂覆層分析的普及機(jī)型，三重射線防護(hù)系統(tǒng)；人性化操作界面；的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件，可不用標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定，即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析。精心設(shè)計的開放式工作曲線功能，特別適用于工藝復(fù)雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。

2.2 性能優(yōu)勢

1.的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件，可不用標(biāo)準(zhǔn)樣品標(biāo)定，即對樣品鍍層膜厚進(jìn)行測試

2.除可對金屬鍍層測試外，還可對合金鍍層、鋁合金鍍層、玻璃鍍層、塑料鍍層進(jìn)行測量，開創(chuàng)了XRF對鍍層測厚的全面技術(shù)

3.軟件可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀和大小自動設(shè)定光管功率，既能延長光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測器性能，大幅提高測量精度

4.業(yè)內(nèi)*提供開放式工作曲線標(biāo)定平臺,可為每家用戶量身定做*的鍍層分析工作曲線

5.三重射線防護(hù)（軟件、硬件、迷宮設(shè)計），確保操作人員人身安全與意外操作帶來的輻射傷害

6.儀器外部對樣品微調(diào)設(shè)計，降低及防止樣品放置好后關(guān)閉樣品蓋產(chǎn)生振動而使測試位置發(fā)生變化導(dǎo)致的測試不準(zhǔn)確性

7.可根據(jù)用戶要求自行定制測試報告輸出格式（Excel、PDF等），符合工廠多種統(tǒng)計及格式要求

8.業(yè)內(nèi)*家對達(dá)克羅涂覆工藝厚度分析的軟件方法，*取代金相顯微鏡技術(shù)在該行業(yè)的應(yīng)用

9.軟件對多次測試結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計分析功能

10.業(yè)內(nèi)*家既可以測試鍍層厚度，又可以同時分析基材及鍍層成分的XRF

2.3 儀器技術(shù)指標(biāo)

1、儀器尺寸：550(W)x480(D)x470(H)mm

2、樣品腔尺寸：500*360*215mm；

3、zui低檢測厚度：0.005um

4、檢測厚度上限，50 - 80um（視材料而定）

5、zui多測試層數(shù)：10層

6、zui小測量面積：0.002mm

7、*分辨率：見下面探測系統(tǒng)詳細(xì)參數(shù)說明

8、準(zhǔn)直器：Φ0.1mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自動切換

9、濾光片：5種濾光片自動切換

10、CCD觀察：260萬像素高清CCD

11、樣品微動范圍：XY50mm

12、輸入電源：AC220V～240V，50/60Hz

13、額定功率：350W

14、重量：約45Kg

15、工作環(huán)境溫度：溫度15—30℃

16、工作環(huán)境相對濕度：≤85%（不結(jié)露）

17、穩(wěn)定性:多次測量重復(fù)性誤差小于0.1%

 

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