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四探針電阻率方阻測試︱四探針探頭的選擇 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
四探針電阻率方阻測試︱四探針探頭的選擇: 四探針探頭是四探針法測試電阻率/方阻測試系統(tǒng)的關(guān)鍵部件。探頭通過四根探針,以適當(dāng)?shù)膲毫忘c(diǎn)陣形式與樣品接觸,連接四探針儀器后,實(shí)現(xiàn)四探針法電流的加載,電壓的取樣。應(yīng)根據(jù)樣品的物理特性,如是固體還是粉末,是一般硅片、金屬等硬質(zhì)材料還是柔性薄膜、涂層、ITO膜類材料,是單一導(dǎo)電層材料還是復(fù)合導(dǎo)電層,樣品的尺寸大小等條件來選擇探頭的壓力和點(diǎn)陣形式,選擇型號。 表2《四探針探頭型號規(guī)格特征選型參照表》
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