幾種常規(guī)無(wú)損檢測(cè)的比較與區(qū)別

幾種常規(guī)無(wú)損檢測(cè)的比較與區(qū)別

我們常見(jiàn)的無(wú)損檢測(cè)有：磁粉檢測(cè)（Magnetic Particle Testing）、超聲檢測(cè)（Ultrasonic Testing）、滲透檢測(cè)（Penetrant Testing）、射線(xiàn)檢測(cè)（Radiographic Testing）、渦流檢測(cè)（Eddy Current Testing）。這幾種無(wú)損檢測(cè)它們的用途及特征也各不相同的。

一、磁粉探傷方法(MT)

磁粉探傷是建立在漏磁原理基礎(chǔ)上的一種磁力探傷方法。當(dāng)磁力線(xiàn)穿過(guò)鐵磁材料及其制品時(shí)，在其（磁性）不連續(xù)處將產(chǎn)生漏磁場(chǎng)，形成磁極。此時(shí)撒上干磁粉或澆上磁懸液，磁極就會(huì)吸附磁粉，產(chǎn)生用肉眼能直接觀察的明顯磁痕。因此，可借助于該磁痕來(lái)顯示鐵磁材

而是埋藏在表面下幾毫米的近表面缺陷。用這種方法雖然也能探查氣孔、夾雜、未焊透等體積型缺陷，但對(duì)面積型缺陷更靈敏，更適于檢查因淬火、軋制、鍛造、鑄造、焊接、電鍍、磨削、疲勞等引起的裂紋。
   磁力探傷中對(duì)缺陷的顯示方法有多種，有用磁粉顯示的，也有不用磁粉顯示的。用磁粉顯示的稱(chēng)為磁粉探傷，因它顯示直觀、操作簡(jiǎn)單、人們樂(lè)于使用，故它是常用的方法之一。不用磁粉顯示的，習(xí)慣上稱(chēng)為漏磁探傷，它常借助于感應(yīng)線(xiàn)圈、磁敏管、霍爾元件等來(lái)反映缺陷，它比磁粉探傷更衛(wèi)生，但不如前者直觀。由于目前磁力探傷主要用磁粉來(lái)顯示缺陷，因此，人們有時(shí)把磁粉探傷直接稱(chēng)為磁力探傷，其設(shè)備稱(chēng)為磁力探傷設(shè)備。

二、 超聲波探傷方法(UT)
   人們的耳朵能直接接收到的聲波的頻率范圍通常是20Hz到20kHz，即音（聲）頻。頻率低于20 Hz的稱(chēng)為次聲波，高于20 kHz的稱(chēng)為超聲波。工業(yè)上常用數(shù)兆赫茲超聲波來(lái)探傷。超聲波頻率高，則傳播的直線(xiàn)性強(qiáng)，又易于在固體中傳播，并且遇到兩種不同介質(zhì)形成的界面時(shí)易于反射，這樣就可以用它來(lái)探傷。通常用超聲波探頭與待探工件表面良好的接觸，探頭則可有效地向工件發(fā)射超聲波，并能接收（缺陷）界面反射來(lái)的超聲波，同時(shí)轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，再傳輸給儀器進(jìn)行處理。根據(jù)超聲波在介質(zhì)中傳播的速度（常稱(chēng)聲速）和傳播的時(shí)間，就可知道缺陷的位置。當(dāng)缺陷越大，反射面則越大，其反射的能量也就越大，故可根據(jù)反射能量的大小來(lái)查知各缺陷（當(dāng)量）的大小。常用的探傷波形有縱波、橫波、表面波等，前二者適用于探測(cè)內(nèi)部缺陷，后者適宜于探測(cè)表面缺陷，但對(duì)表面的條件要求高。

三、 滲透探傷方法(PT)
   滲透探傷是利用毛細(xì)現(xiàn)象來(lái)進(jìn)行探傷的方法。對(duì)于表面光滑而清潔的零部件，用一種帶色（常為紅色）或帶有熒光的、滲透性很強(qiáng)的液體，涂覆于待探零部件的表面。若表面有肉眼不能直接察知的微裂紋，由于該液體的滲透性很強(qiáng)，它將沿著裂紋滲透到其根部。然后將表面的滲透液洗去，再涂上對(duì)比度較大的顯示液（常為白色）。放置片刻后，由于裂紋很窄，毛細(xì)現(xiàn)象作用顯著，原滲透到裂紋內(nèi)的滲透液將上升到表面并擴(kuò)散，在白色的襯底上顯出較粗的紅線(xiàn)，從而顯示出裂紋露于表面的形狀，因此，常稱(chēng)為著色探傷。若滲透液采用的是帶熒光的液體，由毛細(xì)現(xiàn)象上升到表面的液體，則會(huì)在紫外燈照射下發(fā)出熒光，從而更能顯示出裂紋露于表面的形狀，故常常又將此時(shí)的滲透探傷直接稱(chēng)為熒光探傷。此探傷方法也可用于金屬和非金屬表面探傷。其使用的探傷液劑有較大氣味，常有一定毒性。

四、射線(xiàn)探傷方法（RT）

射線(xiàn)探傷是利用射線(xiàn)的穿透性和直線(xiàn)性來(lái)探傷的方法。這些射線(xiàn)雖然不會(huì)像可見(jiàn)光那樣憑肉眼就能直接察知，但它可使照相底片感光，也可用特殊的接收器來(lái)接收。常用于探傷的射線(xiàn)有x光和同位素發(fā)出的γ射線(xiàn)，分別稱(chēng)為x光探傷和γ射線(xiàn)探傷。當(dāng)這些射線(xiàn)穿過(guò)（照射）物質(zhì)時(shí)，該物質(zhì)的密度越大，射線(xiàn)強(qiáng)度減弱得越多，即射線(xiàn)能穿透過(guò)該物質(zhì)的強(qiáng)度就越小。此時(shí)，若用照相底片接收，則底片的感光量就小；若用儀器來(lái)接收，獲得的信號(hào)就弱。因此，用射線(xiàn)來(lái)照射待探傷的零部件時(shí)，若其內(nèi)部有氣孔、夾渣等缺陷，射線(xiàn)穿過(guò)有缺陷的路徑比沒(méi)有缺陷的路徑所透過(guò)的物質(zhì)密度要小得多，其強(qiáng)度就減弱得少些，即透過(guò)的強(qiáng)度就大些，若用底片接收，則感光量就大些，就可以從底片上反映出缺陷垂直于射線(xiàn)方向的平面投影；若用其它接收器也同樣可以用儀表來(lái)反映缺陷垂直于射線(xiàn)方向的平面投影和射線(xiàn)的透過(guò)量。由此可見(jiàn)，一般情況下，射線(xiàn)探傷是不易發(fā)現(xiàn)裂紋的，或者說(shuō)，射線(xiàn)探傷對(duì)裂紋是不敏感的。因此，射線(xiàn)探傷對(duì)氣孔、夾渣、未焊透等體積型缺陷敏感。即射線(xiàn)探傷適宜用于體積型缺陷探傷，而不適宜面積型缺陷探傷。

5、 渦流探傷方法
   渦流探傷是由交流電流產(chǎn)生的交變磁場(chǎng)作用于待探傷的導(dǎo)電材料，感應(yīng)出電渦流。如果材料中有缺陷，它將干擾所產(chǎn)生的電渦流，即形成干擾信號(hào)。用渦流探傷儀檢測(cè)出其干擾信號(hào)，就可知道缺陷的狀況。影響渦流的因素很多，即是說(shuō)渦流中載有豐富的信號(hào)，這些信號(hào)與材料的很多因素有關(guān)，如何將其中有用的信號(hào)從諸多的信號(hào)中一一分離出來(lái)，是目前渦流研究工作者的難題，多年來(lái)已經(jīng)取得了一些進(jìn)展，在一定條件下可解決一些問(wèn)題，但還遠(yuǎn)不能滿(mǎn)足現(xiàn)場(chǎng)的要求，有待于大力發(fā)展。
   渦流探傷的顯著特點(diǎn)是對(duì)導(dǎo)電材料就能起作用，而不一定是鐵磁材料，但對(duì)鐵磁材料的效果較差。其次，待探工件表面的光潔度、平整度、邊介等對(duì)渦流探傷都有較大影響，因此常將渦流探傷用于形狀較規(guī)則、表面較光潔的銅管等非鐵磁性工件探傷。