寧波旗辰儀器有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第16年

18157413317

工程管線探測(cè)儀
艾力推拉力計(jì)
推拉力計(jì)測(cè)試機(jī)臺(tái)
推拉力計(jì)
彈簧測(cè)試儀
材料萬能試驗(yàn)機(jī)
扭力測(cè)試儀
愛華聲級(jí)計(jì)
瑞典easy-laser激光對(duì)中儀
漏水檢測(cè)儀
硬度計(jì)
環(huán)境試驗(yàn)機(jī)
硅鋼片鐵損測(cè)試儀
量具
激光測(cè)徑儀
測(cè)厚儀
氣動(dòng)量?jī)x
振動(dòng)測(cè)試儀
放大鏡
張力儀
激光測(cè)距儀
Easy laser激光對(duì)中儀
硅鋼片鐵損儀
高斯計(jì)/磁通計(jì)
粗糙度儀
色差分析
熔點(diǎn)儀
電子稱
黑白密度計(jì)
聲級(jí)計(jì)
影像測(cè)量?jī)x
直讀光譜儀
三坐標(biāo)
內(nèi)窺鏡
水份檢測(cè)儀
軸承加熱器
紅外測(cè)溫儀
風(fēng)速儀
金相分析設(shè)備
探傷儀
靜電測(cè)量?jī)x
光譜分析儀器
電磁性能檢測(cè)系列
測(cè)色儀
霧度計(jì)系列
在線檢測(cè)設(shè)備
三豐量具
粗糙度輪廓儀
日本橫河記錄儀
磨拋機(jī)
鑲嵌機(jī)
金相顯微鏡
切割機(jī)
活塞發(fā)聲器
測(cè)振筆
激光透平隔板同心度測(cè)量系統(tǒng)
萬能試驗(yàn)機(jī)
衡儀聲級(jí)計(jì)(聲儀)
測(cè)光儀器
紫外/可見光照度計(jì)
輻照計(jì)
磁力表座
絕緣性能檢測(cè)系統(tǒng)
鐵損測(cè)試儀
納米壓痕測(cè)量?jī)x
測(cè)量系統(tǒng)
孔隙率測(cè)試儀
電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x
對(duì)中儀
電阻/溫升測(cè)試系統(tǒng)
光譜儀
皮帶輪對(duì)中儀
涂鍍層測(cè)厚儀
自動(dòng)西林電橋
燃燒試驗(yàn)儀
戶外噪聲測(cè)量單元
平面度測(cè)量?jī)x
核輻射儀
激光測(cè)量系統(tǒng)
多極磁環(huán)測(cè)量裝置
無線建筑聲學(xué)測(cè)量系統(tǒng)
故障診斷儀
激光準(zhǔn)直儀
環(huán)境噪聲監(jiān)測(cè)儀
煙氣分析儀
硬度測(cè)量系統(tǒng)
彎曲試驗(yàn)儀
無線廳堂擴(kuò)聲特性測(cè)量系統(tǒng)
手持式土壤分析儀
THVP-30數(shù)顯維氏硬度計(jì)
THVS-50數(shù)顯自動(dòng)磚塔維氏硬度計(jì)
彩譜色彩霧度計(jì)
電阻測(cè)試儀
聲學(xué)測(cè)量
打標(biāo)機(jī)
實(shí)驗(yàn)機(jī)實(shí)驗(yàn)儀
chroma電力電子
在線檢測(cè)分析系統(tǒng)
信號(hào)分析儀
聲品質(zhì)測(cè)量系統(tǒng)
階次分析
在線檢測(cè)系統(tǒng)
噪聲監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
色差儀
紅外熱像儀
三元催化分析儀
尼通光譜儀
增壓泵實(shí)驗(yàn)裝置
培養(yǎng)箱設(shè)備
鼓風(fēng)干燥箱
檢測(cè)儀

影像測(cè)量?jī)x測(cè)不準(zhǔn)的主要原因

時(shí)間:2023/8/14閱讀:1279
分享:

影像測(cè)量?jī)x的測(cè)量是單軸、二維平面的測(cè)量、三維空間坐標(biāo)的測(cè)量。測(cè)量時(shí)先對(duì)焦取點(diǎn)最后計(jì)算處理。對(duì)焦對(duì)準(zhǔn)依靠光學(xué)系統(tǒng),讀數(shù)來自于標(biāo)尺即光柵系統(tǒng),還有一個(gè)直接影響測(cè)量效果和精度的照明光源,因?yàn)槿绻粶y(cè)件不能被有效正確的照明的影像方法的測(cè)量的儀器,則測(cè)量的結(jié)果顯然要偏離其真實(shí)尺寸。除前述因素外,制約測(cè)量精度不可忽視的因素也包括環(huán)境條件。于上述分析,可以歸納出以下幾個(gè)方面的誤差來源:

1)光柵計(jì)數(shù)尺的誤差;

2)直線度、角擺在工作臺(tái)移動(dòng)時(shí)帶來的誤差;

3)工作臺(tái)兩測(cè)量軸垂直度帶來的誤差;

4)工作臺(tái)面與顯微鏡光軸不垂直帶來的誤差;

5)偏離校準(zhǔn)要求的參考溫度的測(cè)量室溫度帶來的誤差;

6)光源照明條件的變化帶來的對(duì)準(zhǔn)和對(duì)焦誤差。

在這幾種因素中,前四項(xiàng)誤差在儀器制造過程中已經(jīng)形成并固定下來,一般無法改變,是硬件誤差。必須通過控制測(cè)量室的溫度和等溫過程來減小溫度影響帶來的誤差。在實(shí)際測(cè)量中最后一項(xiàng)則常被忽視,被測(cè)工件的影像質(zhì)量和照明效果直接受到光源照明條件改變的影響,主要是因?yàn)橛跋駵y(cè)量?jī)x的圖像是通過具有自動(dòng)調(diào)節(jié)增益的功能CCD接收,但當(dāng)亮度過大時(shí)則會(huì)失去調(diào)節(jié)功能,導(dǎo)致被測(cè)工件影像縮小,當(dāng)亮度過低時(shí),工件影像反而變大。所以只要注意整個(gè)測(cè)量過程中照明條件保持不變,其影響可以忽略,因?yàn)槊總€(gè)重復(fù)圖形結(jié)構(gòu)都同時(shí)在變大或變小,影像變形的影響被間距的測(cè)量計(jì)算直接消除了;除了這種特殊情形外,如測(cè)量工件的長(zhǎng)度、圓的直徑和寬度,都將帶來明顯的誤差。

會(huì)員登錄

×

請(qǐng)輸入賬號(hào)

請(qǐng)輸入密碼

=

請(qǐng)輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏!
標(biāo)簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
撥打電話
在線留言