數(shù)字集成電路多值邏輯測(cè)試儀報(bào)價(jià)數(shù)字集成電路多值邏輯測(cè)試儀報(bào)價(jià) 型號(hào):VV522-Simi100庫(kù)號(hào)：M264585  

數(shù)字集成電路多值邏輯測(cè)試儀

◆利用的多值比較法對(duì)器件進(jìn)行快

速的參數(shù)和功能綜合測(cè)試?！?用戶(hù)可按不

同的要求選擇測(cè)試模式，對(duì)器件進(jìn)行直

流參數(shù)測(cè)試。以區(qū)分IC品質(zhì)，快速分選。

實(shí)用。經(jīng)該產(chǎn)品測(cè)試過(guò)的器件，可

以放心地上機(jī)使用，解決產(chǎn)品質(zhì)量

問(wèn)題?！魯?shù)字IC功能參數(shù)測(cè)試儀。操

作簡(jiǎn)便，測(cè)試成本低廉，實(shí)用。

產(chǎn)品主要性能:

在功能測(cè)試的基礎(chǔ)上

測(cè)試器件的輸人端注人電流。

測(cè)試器件的輸人端交叉漏電流。

測(cè)試器件的輸出端“三態(tài)"及“OC"門(mén)。

測(cè)試器件的輸出負(fù)載電流。

測(cè)試器件的功耗電流。

查找未知芯片型號(hào)。

可以單次測(cè)試，也可以循環(huán)測(cè)試.

可自動(dòng)識(shí)別74系列中的CMOS器件

(如: 74C、74HC、74HCT等)。

當(dāng)被測(cè)芯片被確認(rèn)為74系列CMOS器件時(shí)，儀器將自動(dòng)地對(duì)其進(jìn)行測(cè)試并在顯示屏前顯示一一個(gè)“C"字(此時(shí)被測(cè)器件電

源為T(mén)TL電源)。

本產(chǎn)品所提供的多值測(cè)試參數(shù):

8種可選擇的測(cè)試電源。

根據(jù)不同材料的IC設(shè)置多種輸入端注入電流。

多種測(cè)試電壓比較值。

功耗測(cè)試。

以上參數(shù)的不同組合構(gòu)成不同的測(cè)試模式，其中包括用戶(hù)自定義模式及全組合測(cè)試模式。

測(cè)試模式:

模式O:全組合參數(shù)測(cè)試。

模式1-C:操作與模式0相同，但各有其不同的測(cè)試參數(shù)數(shù)值。

模式D:任選輸人負(fù)載電流及測(cè)試電源和輸人電流測(cè)試。

模式E:自檢。內(nèi)容包括計(jì)算機(jī)部分，顯示、鍵盤(pán)及測(cè)試管腳電路。

模式F:自編程測(cè)試。

測(cè)試范圍及測(cè)試品種:

54系列; 4500 系列;

RAM 256K bit

74系列; 40000 系列:

EPROM 64K bit

4000系列: C0O系列。

光耦

目前市場(chǎng)上所見(jiàn)到的某些功能測(cè)試儀無(wú)法對(duì)IC器件進(jìn)行直流參數(shù)測(cè)試和比較，因此會(huì)把74LS373與74LS374、74LS352、

74LS353、74LS125 與74LS32及OC門(mén)與圖騰柱輸出]等功能性能特性不致的器件混為一類(lèi)。 這種儀器實(shí)用價(jià)值很低，

用儀器測(cè)試通過(guò)后，有時(shí)上機(jī)卻不能正常使用。本產(chǎn)品會(huì)發(fā)生類(lèi)似錯(cuò)誤。

該產(chǎn)品適合器件廠、整機(jī)廠作器件測(cè)試篩選之用，也適合科研、學(xué)校、、IC 經(jīng)銷(xiāo)商使用。它是科技工程

技術(shù)人員開(kāi)發(fā)新產(chǎn)品的得力工具。