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英國(guó)ABI-AT256全品種集成電路測(cè)試儀

時(shí)間:2013/1/21閱讀:3096
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英國(guó)ABI-AT256全品種集成電路測(cè)試儀產(chǎn)品介紹:
 
 

zui大測(cè)試管腳數(shù):256

AT256全品種集成電路測(cè)試儀測(cè)試適用范圍: 

 

元器件測(cè)試-適用于所有類(lèi)型的集成電路的測(cè)試和元器件的篩選測(cè)試
電路板測(cè)試-適用各種電路板的檢測(cè)(附加測(cè)試電纜線(xiàn)和各種封裝的測(cè)試夾)

 

AT256全品種集成電路測(cè)試儀測(cè)試原理(v-i曲線(xiàn)測(cè)試):

 


對(duì)元器件的每個(gè)管腳施加一個(gè)安全的低功率的掃描驅(qū)動(dòng)信號(hào),產(chǎn)生一個(gè)阻抗特征圖,以備對(duì)比和存儲(chǔ)。
被測(cè)器件和數(shù)據(jù)庫(kù)中標(biāo)準(zhǔn)動(dòng)態(tài)阻抗圖相比對(duì),阻抗圖的差異大小即可判斷元件的好壞和可用性。
測(cè)試信號(hào)可設(shè)定的參數(shù)包括: 電壓、波形、源電阻、頻率。可根據(jù)需要進(jìn)行調(diào)整以便得到準(zhǔn)確的信息。

 

集成電路測(cè)試操作如此簡(jiǎn)單:

 


1.從數(shù)據(jù)庫(kù)選擇要測(cè)試的集成電路型號(hào).
2.將集成電路插入測(cè)試座.
3.執(zhí)行測(cè)試
4.得到PASS或FAIL的測(cè)試結(jié)果.

 

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商品輸入檢驗(yàn)

 

不需要電子專(zhuān)業(yè)知識(shí).
適用于所有集成電路/封裝件.及各種類(lèi)型電路板
靈活、好安裝、宜操作.
測(cè)試結(jié)果直接: PASS或FAIL.
軟件可設(shè)定各種測(cè)試條件.
可提供完整的元件測(cè)試分析報(bào)告.

 

AT256全品種集成電路測(cè)試儀適合不同封裝形式的元件:

 

-雙列插腳(DIL)
-小型封裝集成集成電路(SOIC)
-小型封裝(SSOP, TSOP)
-塑料無(wú)引線(xiàn)芯片載體封裝(PLCC)
-四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)
-球門(mén)陣列封裝(BGA)
注意:AT系列不受限于只能測(cè)試電子集成電路, 也可用于整個(gè)模塊。

 

測(cè)試通道

 


標(biāo)準(zhǔn)提供多達(dá)128個(gè)測(cè)試通道, 可設(shè)定用于不同的元器件封裝。
升級(jí)模塊:64通道
可擴(kuò)充到192/256個(gè)測(cè)試通道。

 


AT256全品種集成電路測(cè)試儀用兩種模式掃瞄:

 


•一般模式: 掃描信號(hào)是以一固定管腳為參考點(diǎn), 測(cè)試信號(hào)施加到待測(cè)元器件上。
•矩陣模式: 掃描信號(hào)是以元器件的各個(gè)管腳為參考點(diǎn), 測(cè)試信號(hào)循環(huán)組合施加到待測(cè)元器件上。

 

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通用型PLCC轉(zhuǎn)接器(用于測(cè)試有20~84腳的PLCC封裝)

 

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數(shù)據(jù)庫(kù)

 


用戶(hù)可根據(jù)自己的需要,用性能完好的器件創(chuàng)建ic的測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù),以備日后測(cè)試使用。創(chuàng)建一個(gè)測(cè)試庫(kù)僅需要數(shù)秒的操作時(shí)間,操作十分簡(jiǎn)單容易。

 

結(jié)果比較型式:

 


將數(shù)據(jù)庫(kù)中的IC與待測(cè)ic的V-I曲線(xiàn)相比較, 即可判定被測(cè)IC的好壞,提供兩種比較型式:

 

•與數(shù)據(jù)庫(kù)中元件比較: 被測(cè)IC的V-I曲線(xiàn)與數(shù)據(jù)庫(kù)中的相同型號(hào)的IC比較
• 被測(cè)IC之間比較比較: 多個(gè)集成電路的之間的V-I曲線(xiàn)相比較。

 

軟件- 靈活性

 


1)軟件提供測(cè)試庫(kù)圖形化修改功能,以方便用戶(hù)制作不同新封裝形式器件的測(cè)試庫(kù),
2)軟件可以自定義各個(gè)通道的使用,一臺(tái)機(jī)器可以同時(shí)檢測(cè)多個(gè)器件

 

報(bào)告

 


1)軟件可產(chǎn)生一詳細(xì)的測(cè)量報(bào)告, 包含集成電路相片。這份報(bào)告可用于深入分析好壞集成電路的差異具體原因。
2)用戶(hù)可處理集成電路的各種信息; 集成電路的動(dòng)態(tài)阻抗圖可儲(chǔ)存在pc中,并可隨時(shí)讀出, 以與新的掃瞄阻抗圖作比較。
3)為了今后使用方便, 可在集成電路的存儲(chǔ)數(shù)據(jù)文件夾內(nèi)增加其它信息, 包括:相片、PDF文件或甚至文字與電子表格。

 

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針印(PinPrint)動(dòng)態(tài)阻抗詳細(xì)分析元件的管腳.

 

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定制化的報(bào)告(PinPrint).

 

轉(zhuǎn)接器

 


1)標(biāo)準(zhǔn)型:

 

用于SOIC、SSOP、TSOP及PLCC封裝; 也有提供AT系列校正工具組。

 

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標(biāo)準(zhǔn)SOIC轉(zhuǎn)接器

 

通用型:

 


用于SOIC及PLCC封裝; 一個(gè)轉(zhuǎn)接器即適用于各種芯片尺寸, 測(cè)試有20、28、32、44、52、68、84腳的集成電路。

 

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一個(gè)轉(zhuǎn)接器即適用于測(cè)試寬0.15”~0.6”達(dá)44腳的集成電路。

 

客制型:

 


可訂制各種封裝的轉(zhuǎn)接器, 包括: BGA、QFP; 請(qǐng)進(jìn)一步洽詢(xún), 以設(shè)計(jì)符合您需求的轉(zhuǎn)接器。

 

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BGA插座轉(zhuǎn)接器

 

技術(shù)規(guī)格

 

掃描測(cè)試波形 正弦波,鋸齒波,三角波
掃描測(cè)試頻率 6種頻率供選擇:100Hz,200Hz,500Hz,1KHz,2KHz,5KHz
掃描電壓(Vs) 4種峰值電壓選擇:-20~+20V 步進(jìn)0.1V
掃描源電阻(Rs) 3種電阻供選擇:1kΩ, 10kΩ,100kΩ
掃描通道 AT128通道數(shù)量:128通道(已停產(chǎn))
AT192通道數(shù)量:192通道
AT256通道數(shù)量:256通道
顯示模式:VI曲線(xiàn)圖
掃描模式:手動(dòng)或連續(xù), 或自行設(shè)定掃描次數(shù)
掃瞄模式 一般模式:掃描信號(hào)是以一固定管腳為參考點(diǎn),測(cè)試信號(hào)施加到待測(cè)元器件上.
矩陣模式:掃描信號(hào)是以元器件的各個(gè)管腳為參考點(diǎn),測(cè)試信號(hào)循環(huán)組合施加到待測(cè)元器件上.
電腦連接 USB
連接電腦使用,標(biāo)準(zhǔn)配置含上位機(jī)軟件
適合不同封裝形式元件: 適合不同封裝形式的元件:
-雙列插腳(DIL)
-小型封裝集成集成電路(SOIC)
-小型封裝(SSOP, TSOP)
-塑料無(wú)引線(xiàn)芯片載體封裝(PLCC)
-四方扁平封裝(TQFP, PQFP, LQFP)
-球門(mén)陣列封裝(BGA)
注意:AT系列不受限于只能測(cè)試電子集成電路, 也可用于整個(gè)模塊及電路板。
測(cè)試報(bào)告

可自行編輯測(cè)試報(bào)告

功率需求 線(xiàn)路電壓:85~264VAC
頻率:47~63Hz
功率:zui大150W
尺寸/重量 尺寸:27x25x9cm;重量:3.5kg
操作溫度.濕度 溫度:10°C~30°C濕度: 20~80% RH。
保修期 一年
認(rèn)證 CE認(rèn)證& RoHS合格。
計(jì)算機(jī)規(guī)格需求 Microsoft Windows XP或Vista
Pentium 4或更高
zui小的RAM:512 MB
硬盤(pán)空間:200MB
USB2.0高速傳輸
鼠標(biāo),鍵盤(pán)與屏幕
標(biāo)準(zhǔn)配件: 用戶(hù)手冊(cè)。
USB導(dǎo)線(xiàn)。
軟件CD(含驅(qū)動(dòng)程序與操作手冊(cè))。
選購(gòu)配件: 校正工具組。
各種轉(zhuǎn)接器。

 


儀器用途一

 

翻新及二手器件檢測(cè)

 


• 可由倉(cāng)庫(kù)部門(mén)在收到集成電路時(shí)進(jìn)行檢查, 以確保收到的集成電路是真品; 商品輸入部門(mén)的員工不需要電子知識(shí)即可操作這個(gè)系統(tǒng)。
• 檢查可能偽造的集成電路, 并分析供貨商的測(cè)試數(shù)據(jù)。用戶(hù)可應(yīng)用完整的報(bào)告, 確定問(wèn)題的來(lái)源。

 

翻新及二手器件檢測(cè)儀

 


能快速簡(jiǎn)單檢測(cè)出翻新IC及集成電路測(cè)試的解決方案。

 

透過(guò)精密的PinPrint(針?。y(cè)試算法則,能夠辨識(shí)出有不同內(nèi)部結(jié)構(gòu)或根本沒(méi)有結(jié)構(gòu), 甚至是由不同廠(chǎng)家所制造的集成電路。

 

他就像您的電子守衛(wèi), 守衛(wèi)在您生產(chǎn)設(shè)備之入口, 不受偽造元器件之滲透?jìng)Α?br />

 

何謂偽造翻新集成電路

 


Counterfeit [koun-ter-fit](形容詞): 意思是仿造, 以便虛偽不實(shí)地假裝是真品。

 

制造膺品(仿冒品)集成電路是非法的, 會(huì)出現(xiàn)(仿冒品)是因?yàn)殡娮恿慵目赊D(zhuǎn)讓。任何需要制造PCB集成電路的公司都在承擔(dān)這個(gè)風(fēng)險(xiǎn), 也或許曾經(jīng)收到過(guò)大批的”不良”元器件。

 

仿冒可透過(guò)各種過(guò)程達(dá)成: 在極不可靠的過(guò)程里, 把集成電路從報(bào)廢/棄置的電路板中取出, 接著作表面處理維修; 再加上偽相關(guān)信息于集成電路上, 包括制造廠(chǎng)商標(biāo), 然后拿來(lái)當(dāng)作真品賣(mài)給粗心的買(mǎi)家。另一個(gè)方法則是真的憑正規(guī)的制造能力, 在標(biāo)準(zhǔn)工時(shí)以外的大夜班(ghost shift)生產(chǎn)集成電路, 然而, 以那種方式生產(chǎn)的芯片含有許多制造上的瑕疵, 有些甚至沒(méi)有硅片(silicon die)。

 

很不幸地, 得一直等到把它們放在PCB上, 在生產(chǎn)團(tuán)隊(duì)對(duì)完整的組裝進(jìn)行*次測(cè)試時(shí), 才可能鑒別到仿造的集成電路。如此將導(dǎo)致昂貴的過(guò)程-辨識(shí)問(wèn)題集成電路、再把它們從生產(chǎn)中的所有電路板上拿掉。在某些情況下, 甚至得把整批成品回收回工廠(chǎng)。

 

5年來(lái), 仿冒集成電路的舉發(fā)呈倍數(shù)地增加; 2008年, 仿冒IC的出口量占貿(mào)易總額的8%以上, 相當(dāng)于損失60億的銷(xiāo)售額。

英國(guó)ABI-AT256集成電路測(cè)試儀適配座部分選配清單

 

適配座型號(hào)

圖片

適配座型號(hào) 圖片

SOP-20

 

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PLCC-44

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SOIC-28

 

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PLCC-68

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SSOP-28

 

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QFP-44

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SSOP-34

 

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QFP-64

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TSOP-48

 

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QFP-100

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TSOP-54

 

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QFP-128

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TSOP-56

 

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QFP-144

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