HITEC 炭黑單顆粒強(qiáng)度分析儀

HITEC 制造的單顆粒強(qiáng)度分析儀IPHT是用來(lái)測(cè)定造粒炭黑的粒子破碎強(qiáng)度的儀器。它是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)ASTM D5230和標(biāo)準(zhǔn)ASTM D3313制造的。
這個(gè)設(shè)備的工作范圍已經(jīng)超過(guò)標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)定的范圍，所用的計(jì)算機(jī)軟件提供許多方便的測(cè)試方法和測(cè)試數(shù)據(jù)，提供符合ASTM要求的測(cè)試和統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)。
這個(gè)測(cè)試系統(tǒng)為生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制和產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)提供了強(qiáng)有力的手段。

HITEC 制造的單顆粒強(qiáng)度分析儀測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

ASTM D5230恒定壓迫速度測(cè)試方式
ASTM D3313恒定壓迫力量測(cè)試方式
測(cè)試數(shù)據(jù)：測(cè)試每個(gè)顆粒的硬度、直徑
結(jié)構(gòu)緊湊：體積很小，放在桌子上即可操作。
運(yùn)行方式：可以采用手動(dòng)方式單個(gè)進(jìn)行測(cè)試；也可以按照設(shè)定的數(shù)量連續(xù)的自動(dòng)進(jìn)行測(cè)試，并計(jì)算和統(tǒng)計(jì)出測(cè)量結(jié)果。
運(yùn)行環(huán)境：?jiǎn)晤w粒強(qiáng)度測(cè)試儀可以在粉塵環(huán)境下測(cè)量。 但配套的計(jì)算機(jī)要求在清潔的環(huán)境下運(yùn)行。
減震要求：特別設(shè)計(jì)的減震臺(tái)面 IPHT-DTBL被要求安裝在測(cè)試系統(tǒng)的底部，以減少外界振動(dòng)產(chǎn)生的干擾。這個(gè)設(shè)備是我們非常*用戶使用的一個(gè)關(guān)鍵設(shè)備。
取樣器：IPHT-RASB隨機(jī)取樣臺(tái)有14樣品工位，這是一個(gè)用戶可選的設(shè)備，可以隨時(shí)裝上或隨時(shí)移開(kāi)。但它對(duì)于測(cè)試的樣品數(shù)量比較大的客戶是非常有用的。它采用氣動(dòng)和步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)的自動(dòng)工作方式，工作時(shí)需要接通大約6公斤左右的壓縮空氣。 甚至在測(cè)試過(guò)程中也可以添加測(cè)試樣品，修改測(cè)試順序等。
隨機(jī)取樣托盤
與計(jì)算機(jī)的連接：主系統(tǒng)IPHT-BASU與計(jì)算機(jī)通過(guò)串口或局域網(wǎng)聯(lián)接，通過(guò)串口每臺(tái)計(jì)算機(jī)可以連接4臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)。
數(shù)據(jù)處理軟件：
涵蓋了ASTM標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的所有測(cè)試要求，這個(gè)軟件系統(tǒng)對(duì)過(guò)程數(shù)據(jù)進(jìn)行測(cè)量和計(jì)算。根據(jù)ASTM D5230 和 D3313規(guī)定。該儀器可采用恒定壓迫速度測(cè)試方式（ASTM D5230） 和恒定壓迫力量（ASTM D3313）測(cè)試方式。
 

HITEC 制造的單顆粒強(qiáng)度分析儀技術(shù)數(shù)據(jù)

采用標(biāo)準(zhǔn)
ASTM D5230，D3313
電力要求
單相 220/240V 50Hz, 110v 60hz
測(cè)試力的范圍
0-300g
精度
+/- 1g
顆粒的大小
0.8-3 mm
精度
+/- 0.02
步進(jìn)電機(jī)zui小行進(jìn)距離
0.001172
壓縮方式
恒定速度壓縮 ASTM D5230
恒定壓力壓縮 ASTM D3313
取樣器
隨機(jī)的14個(gè)工位取