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CSK-IB試塊 GS-1、2、3、4試塊承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)試塊 承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA 試塊 CSK-IA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊 CSK-IA超聲波試塊 溝槽射線探傷對比試塊 ASME非管徑焊縫試塊 NB/T47013-2015標(biāo)準(zhǔn)超聲波試塊 鐵道部標(biāo)準(zhǔn)試塊 石油天然氣管道專用試塊 建筑行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)試塊 其它國家標(biāo)準(zhǔn)試塊 NDT培訓(xùn)考試試塊 超聲波探傷試塊
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紫外線燈75 不銹鋼鍍鉻條紋試塊 新美達(dá)清洗劑 紅色磁粉油磁懸液 顯像劑滲透劑清洗劑 反差增強(qiáng)抄數(shù)掃描劑 宏達(dá)牌反差增強(qiáng)劑 增強(qiáng)顯示劑磁粉探傷 新美達(dá)MT-BW黑水磁懸液 宏達(dá)牌干法黑磁粉、干法紅磁粉 熒光探傷磁粉磁懸 水基紅色磁懸液 宏達(dá)牌熒光磁粉（紅磁粉/黑磁粉） 新美達(dá)MT-BO黑油磁懸液 上海新美達(dá)/誠友集團(tuán)反差增強(qiáng)劑 磁粉探傷用消泡劑 無錫捷成 磁場強(qiáng)度計(jì) 北京師范大學(xué) 屏幕亮度計(jì) 北師大紫外輻照計(jì) 宏達(dá)干法黑磁粉 宏達(dá)牌 熒光磁懸液 宏達(dá)牌反差增強(qiáng)劑 宏達(dá)牌濕法探傷磁粉膏 宏達(dá)牌著色滲透探傷劑 新美達(dá) DPT-5 著色滲透探傷劑 RJUV-90紫外線探傷燈 RJUV-40紫外線探傷燈 熒光磁粉探傷 顯影粉定影粉 DPT-5著色探傷機(jī)滲透探傷劑顯像劑 著色滲透探傷劑 A型靈敏度試片 FC-5反差增強(qiáng)劑 宏達(dá)黑油磁懸液 磁場指示器八角試塊 儒佳 RJ-LED86觀片燈與黑白密度計(jì)一體 儒佳RJH-130高精密超聲波測厚儀 磁粉探傷|干磁粉噴散器
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標(biāo)定尺 警戒帶警示牌 現(xiàn)場警示燈 膠片洗片機(jī) 透射式黑白密度計(jì) 工業(yè)底片黑白密度計(jì) 工業(yè)LED觀片燈 冷光源便攜式觀片燈 冷光源底片燈 工業(yè) 鉛箔增感屏 顯定影液套藥加熱棒 工業(yè)膠片透射式黑白密度計(jì)含校準(zhǔn)密度片 核輻射劑量片熱釋光片 冷光源工業(yè)觀片燈黑度5.0D 雙絲像質(zhì)計(jì)DR成像系統(tǒng)用雙線型IQI定制選擇 環(huán)境輻射檢測儀核輻射檢測手持式醫(yī)院工業(yè)射線巡檢儀 底片評片燈x光射線探傷 工業(yè)觀片燈/射線探傷評片/小巧臺式便攜/高亮度冷光源LED黑度5.0D 暗室紅燈定時(shí)器 射線探傷專用鉛字盒 愛克發(fā)AGFA G335定影液 沖洗套藥 手洗套藥 愛克發(fā)顯影液 定影液 沖洗套藥 手洗套藥 機(jī)洗套藥AGFA 管道射線探傷專用尺 定位尺 磁性貼邊框 數(shù)字定時(shí)器暗室紅燈定時(shí)器 不銹鋼洗片桶 射線評片尺 拉環(huán)磁鋼 膠片底片袋 可加工定制 暗室LED燈 （手持式）個(gè)人劑量報(bào)警儀 筆式輻射報(bào)警儀 環(huán)境輻射檢測儀 工業(yè)X射線照相底片袋 探傷膠片袋 定制定做 工業(yè)底片烘干箱 便攜工業(yè)底片烘干箱 325000Lux工業(yè)底片觀片燈 435000Lux工業(yè)底片觀片燈 高亮度工業(yè)觀片燈 腕式個(gè)人劑量計(jì) 黑白密度計(jì)定制生產(chǎn) 廠家直銷 個(gè)人輻射劑量報(bào)警儀價(jià)格 筆式輻射劑量報(bào)警儀 非磁性暗袋 射線探傷暗袋非磁人革暗袋 觀片燈 射線觀片燈 醫(yī)用輻射劑量報(bào)警儀 暗室紅燈計(jì)時(shí)器 一體式密度計(jì)觀片燈 高亮度射線底片觀片燈 暗室紅燈 手持式輻射報(bào)警儀 個(gè)人劑量報(bào)警儀 工業(yè)觀片燈 膠片燈 便攜式工業(yè)冷光源觀片燈 底片評片燈
涂層測厚儀的正確使用方法
涂層測厚儀的正確使用方法
即使相同的涂層測厚儀，不同的人或?qū)Σ煌N類、狀態(tài)基材上的相同涂層測量出來的數(shù)據(jù)也可能會存在較大差別，這是因?yàn)闇y量人員因素、測量漆膜的基體材質(zhì)、厚度、表面狀況以及測量位置等造成的。使用涂層測厚儀，要注意以下幾點(diǎn)：
使用前應(yīng)仔細(xì)閱讀儀器使用說明書
不同廠家、不同品牌的儀器在結(jié)構(gòu)、按鍵、校準(zhǔn)等方面各不相同，因此使用前必須先仔細(xì)閱讀儀器的使用說明書，避免誤操作造成測量數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤。
注意金屬基體材質(zhì)
不同金屬基體材料的磁性、導(dǎo)電率是不相同的，這都會對測量結(jié)果造成影響[9]。采用磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。由于基體金屬的成分及熱處理方法不同，導(dǎo)致其電導(dǎo)率不同，因此應(yīng)使用與被檢測試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
注意檢測試件形狀
在實(shí)際生產(chǎn)中，工件的材料厚度、形狀、表面粗糙度等存在差異，這些差異會對實(shí)際測量結(jié)果造成影響。每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度，大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響，如果試件材料厚度小于儀器所要求的臨界厚度，檢測結(jié)果就會與實(shí)際厚度有差別。一些儀器對試件表面形狀的陡變十分敏感，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量的數(shù)值會不可靠，實(shí)際測量時(shí)應(yīng)選擇遠(yuǎn)離邊緣和內(nèi)轉(zhuǎn)角的部位。試件表面不僅存在形狀的陡變，還可能存在不同的曲率，一些儀器的測量結(jié)果總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此，即使在選擇儀器時(shí)考慮了zui小曲率半徑，測量時(shí)仍應(yīng)盡可能選擇在平面部位進(jìn)行測量。
以上也是在選擇測厚儀器時(shí)需要考慮zui小曲率半徑、zui小測量面積、zui小基體厚度的原因。