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涂層測(cè)厚儀的原理及分類
閱讀：1708 發(fā)布時(shí)間：2017-7-24
涂層測(cè)厚儀又稱為覆層測(cè)厚儀,其原理如下：
磁性測(cè)厚原理:當(dāng)測(cè)頭與覆層接觸時(shí),霍爾發(fā)現(xiàn)這個(gè)電位差UH與電流強(qiáng)度IH成正比,測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,與磁感應(yīng)強(qiáng)度B成正比,當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí),金屬基體上產(chǎn)生電渦流,與薄片的厚度d成反比。通過測(cè)量其變化可計(jì)算覆蓋層的厚度。
渦流測(cè)厚原理:利用高頻交電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng),磁性測(cè)厚法是用來無損的測(cè)磁性金屬上的非磁性覆蓋層的厚度,現(xiàn)在有一款新型的涂層測(cè)厚儀,即涂層測(cè)厚儀,它采用的是的磁感技術(shù)。也就是我們知道的霍爾效應(yīng),霍爾于1879年發(fā)現(xiàn)的。渦流法可無損的測(cè)量費(fèi)磁性金屬基體上的非導(dǎo)電層的厚度。通過研究霍爾電壓與工作電流的關(guān)系,測(cè)量電磁鐵磁嘗磁導(dǎo)率、研究霍爾電壓與磁場(chǎng)的關(guān)系,涂層測(cè)厚儀又叫覆層測(cè)厚儀,測(cè)膜儀,涂鍍層儀它是采用磁性測(cè)厚法和渦流法測(cè)厚原理。
,涂層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類型方法:
1.磁性測(cè)厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量.導(dǎo)磁材料一般為:鋼\\鐵\\銀\\鎳.此種方法測(cè)量精度高
2.渦流測(cè)厚法:適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。
3.超聲波測(cè)厚法:目前國內(nèi)還沒有用此種方法測(cè)量涂鍍層厚度的,國外個(gè)別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或則是以上兩種方法都無法測(cè)量的場(chǎng)合.但一般價(jià)格昂貴,如200型超聲涂層測(cè)厚儀于測(cè)量非金屬基體上的涂層。
4.電解測(cè)厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測(cè),需要破壞涂鍍層.一般精度也不高.測(cè)量起來較其他幾種麻煩
5.放射測(cè)厚儀:此種儀器價(jià)格非常昂貴(一般在10萬RMB以上),適用于一些特殊場(chǎng)合。
涂層測(cè)厚儀功能：
1、具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式(CONTINUE)和單次測(cè)量方式(SINGLE)；
2、具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)；
3、設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)；
4、可采用兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
5、具有存貯功能：可存貯500個(gè)測(cè)量值；
6、具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量；
7、可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析；
8、具有打印功能：可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖；
9、具有與PC機(jī)通訊的功能：可將測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值傳輸至PC機(jī)，以便對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理；
10、設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式。