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一、介質(zhì)損耗試驗概述:
二、試驗儀器的選擇及試驗方法:
2.反接線法:
(1)tgδ值于歷年的數(shù)值比較不應(yīng)有顯著變化(一般不大于30%)
(2)試驗電壓如下:
繞組電壓10kV及以上 10kV
繞組電壓10kV以下 Un
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