在采樣芯片的外圍電路設計上我們采用了高精度的電壓基準芯片提供給采樣用的比較電壓，改善了以往設計中由于線形電源紋波變化導致的采樣數(shù)據(jù)的個體漂移。

　　在對采樣芯片的控制和數(shù)據(jù)讀取上我們摒棄了以往產(chǎn)品通過普通的8051單片機軟件程序控制的方式,采用了現(xiàn)在電路設計流行的大規(guī)模FPGA芯片設計技術(shù)和快速光藕隔離技術(shù)，我們設計了對采樣芯片的硬件處理過程的算法，從而可以實現(xiàn)對采樣芯片的高速采集和高速控制。并且這種設計使得對采集芯片的控制不需要占用CPU的處理時間，解決了以往設計中由于CPU采集數(shù)據(jù)處理不及時帶來的數(shù)據(jù)缺失和與PC軟件通信過程異常中斷(USB中斷)的相關問題。