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ZLT-I21-帶推力試驗(yàn)探針
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  • ZLT-I21-帶推力試驗(yàn)探針

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貨物所在地: 廣東廣州市
產(chǎn)地: 廣州
更新時間: 2024-10-11 21:00:07
期: 2024年10月11日--2025年4月11日
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產(chǎn)品簡介

帶推力試驗(yàn)探針符合GB2099-2008圖10、IEC60884圖10等標(biāo)準(zhǔn)要求,用于對帶保護(hù)門的帶電部件及有加強(qiáng)保護(hù)插座的帶電部件的不可觸及性的檢驗(yàn)。

詳細(xì)介紹

帶推力試驗(yàn)探針符合GB2099-2008圖10、IEC60884圖10等標(biāo)準(zhǔn)要求,用于對帶保護(hù)門的帶電部件及有加強(qiáng)保護(hù)插座的帶電部件的不可觸及性的檢驗(yàn)。

●尺寸:直徑1㎜,長80㎜,1N推力。

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