| 注冊(cè)| 產(chǎn)品展廳| 收藏該商鋪

行業(yè)產(chǎn)品

當(dāng)前位置:
廣東宏展科技有限公司>>技術(shù)文章>>GB/T 5170.8-2008測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

產(chǎn)品分類品牌分類

更多分類

GB/T 5170.8-2008測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

閱讀:2571        發(fā)布時(shí)間:2018-8-2

本頁面標(biāo)準(zhǔn)信息均來源于網(wǎng)絡(luò)收集,或由參與標(biāo)準(zhǔn)制定的供應(yīng)商提供,只作為參考使用,為確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性、節(jié)省您的時(shí)間,如需GB/T 5170.8-2008標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)信息或GB/T 5170.8-2008具體測(cè)試方法,歡迎與我們技術(shù)人員聯(lián)系或給我們留言,我們將為您相關(guān)的技術(shù)支持。

 

GB/T 5170.8-2008標(biāo)準(zhǔn)介紹

 GB/T 5170.8-2008替代原先GB/T 5170.8-1996所使用,本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了鹽霧試驗(yàn)設(shè)備的檢定項(xiàng)目、檢定用儀器、測(cè)量點(diǎn)的位置與數(shù)量、檢定步驟和檢定數(shù)據(jù)的處理與檢定結(jié)果。

本標(biāo)準(zhǔn)適用于對(duì)GB/T 2423.17《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ka:鹽霧試驗(yàn)方法》和GB 2423.18《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Kb:交變鹽霧試驗(yàn)方法(氯化鈉溶液)》所用鹽霧試驗(yàn)設(shè)備的周期檢定。

本標(biāo)準(zhǔn)也適用于類似設(shè)備的周期檢定。

 

GB/T 5170目前包含以下凡部分

-GB/T5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則

-GB/T 5170.2--2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

-GB/T5170.5- 2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備

-GB/T 5170. 8-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 鹽霧試驗(yàn)設(shè)備

-GB/T 5170. 9-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 太陽輻射試驗(yàn)設(shè)備

-GB/T5170. IO-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法高低溫低氣壓試驗(yàn)設(shè)備

-GB/T5170. 11-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 腐蝕氣體試驗(yàn)設(shè)備

-GB/T 5170. 13 - 2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用機(jī)械振動(dòng)臺(tái)

-GB/T 5170. 14-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái)

-GB/T5170. 10-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)用液壓振動(dòng)臺(tái)

-GB/T5170.16-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 穩(wěn)態(tài)加速度試驗(yàn)用離心機(jī)

-GB/T 5170. 17-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜臺(tái)順序試驗(yàn)設(shè)備

-GB/T 5170.18-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組臺(tái)循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備

-GB/T 5170,.19-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基率參數(shù)檢定方法溫度/振動(dòng)(正弦)綜合試驗(yàn)設(shè)備

-一GB/T 5170.20--2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗(yàn)設(shè)備

本部分是GB/T5170的第8部分。

 

▼GB/T 5170.8-2008第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)

GB/T 5170.8-2008PDF資料

以上標(biāo)準(zhǔn)信息來自互聯(lián)網(wǎng)搜索整理,如需了解完整的GB/T 5170.8-2008的信息或GB/T 5170.8-2008標(biāo)準(zhǔn)解讀,歡迎詳詢。

收藏該商鋪

請(qǐng) 登錄 后再收藏

提示

您的留言已提交成功!我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
二維碼 意見反饋
在線留言