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GB/T2423.22-2012標(biāo)準(zhǔn)介紹

GB/T2423.22-2012是關(guān)于《環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化 》。GB/T2423的本部分規(guī)定的試驗(yàn)用來確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品耐受環(huán)境溫度快速變化的能力。實(shí)現(xiàn)這一目的所需的各溫度下的暴露持續(xù)時(shí)間取決于試驗(yàn)樣品的特性。

GB/T2423.22-2012是GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的第22部分,GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見資料性附錄NA。

本部分按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。

本部分代替GB/T2423.22—2002《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度

變化》和GB/T2424.13—2002《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則》。

本部分以GB/T2423.22—2002為主,整合了GB/T2424.13—2002的部分內(nèi)容,與GB/T2423.22—2002和GB/T2424.13—2002相比,主要技術(shù)變化和編輯性修改如下:

———試驗(yàn)Na和試驗(yàn)Nb中,刪除了對(duì)試驗(yàn)箱的**濕度、箱壁溫度和空氣流速的有關(guān)要求(見7.2.1、8.2.1);

———試驗(yàn)Na中,增加了允許采用一臺(tái)快速溫度變化速率的試驗(yàn)箱進(jìn)行試驗(yàn)的規(guī)定(見7.2.1);

———試驗(yàn)Na和試驗(yàn)Nb的嚴(yán)酷等級(jí),增加了“暴露持續(xù)時(shí)間”這一參數(shù)(見7.2.3、8.2.3);

———試驗(yàn)Na中,刪除了“轉(zhuǎn)換時(shí)間應(yīng)為:(2~3)min、(20~30)s、<10s”的規(guī)定,代之以“轉(zhuǎn)換時(shí)間t2不宜超過3min”(見7.2.5);

———試驗(yàn)Nb中,增加了溫度變化速率的兩個(gè)優(yōu)選值:(10±2)K/min和(15±3)K/min(見8.2.3);

———試驗(yàn)Nc中,刪除了兩組標(biāo)準(zhǔn)化的持續(xù)時(shí)間參數(shù);

———溫度偏差的單位用“K”取代“℃”;

———刪除了GB/T2424.13—2002的3.4.2和第4章的內(nèi)容;

———更新了GB/T2424.13—2002的3.3的內(nèi)容;

———更新了所有的示圖;

———將試驗(yàn)Na、試驗(yàn)Nb、試驗(yàn)Nc中共同的內(nèi)容“初始和后檢測(cè)”編為單獨(dú)的第6章;

———增加了第10章“試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)給出的信息”;

———描述試驗(yàn)Na、試驗(yàn)Nb、試驗(yàn)Nc的各章結(jié)構(gòu)上作了調(diào)整(見第7章、第8章、第9章)。

本部分使用翻譯法等同采用IEC60068-2-14:2009《環(huán)境試驗(yàn) 第2-14部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化》。

與本部分中規(guī)范性引用的文件有一致性對(duì)應(yīng)關(guān)系的我國文件如下:

GB/T2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(GB/T2423.1—2008,IEC60068-2-1:2007,IDT)

GB/T2423.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(GB/T2423.2—2008,IEC60068-2-2:2007,IDT

▼GB/T2423.22-2012第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)

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