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溫度循環(huán) / 溫度沖擊試驗

閱讀:1286        發(fā)布時間:2018-11-28

 

溫度循環(huán) / 溫度沖擊試驗 在產(chǎn)品的生命周期中,可能面臨各種溫度環(huán)境的條件下,使得產(chǎn)品在脆弱的部份顯現(xiàn)出來,造成產(chǎn)品的損傷或失效,進而影響到產(chǎn)品的可靠性。
溫度循環(huán)試驗(Thermal Cycling):以每分鐘5~15度的溫變率,在溫度變化上做一連串的高低溫冷熱循環(huán)測試。
溫度沖擊試驗(Thermal Shock): 以每分鐘40度的溫變率或客戶條件在溫度急速變化上做極嚴(yán)苛條件之高低溫冷熱沖擊測試。
此試驗并非真正模擬實際情況。其目的在施加嚴(yán)苛應(yīng)力并加速老化因子于待測物上,藉此了解可能產(chǎn)生的潛在性損害系統(tǒng)設(shè)備及零部件的因素,以確認(rèn)產(chǎn)品是否正確設(shè)計或制造。


常見失效模式
1.材料熱膨脹系數(shù)差異過大產(chǎn)生錫裂(Solder Crack)Thermal Cycling-Thermal Shock

2.阻值異常

 

參考規(guī)范
JESD 22-A104
IPC 9701

 

適用領(lǐng)域
Temperature Cyclic Chamber
消費性芯片、車用Board Level

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