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[供應(yīng)]SGW X-4B-顯微熔點(diǎn)儀
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  • SGW X-4B-顯微熔點(diǎn)儀
貨物所在地:
江蘇南京市
更新時(shí)間:
2021-06-06 21:00:06
有效期:
2021年6月6日 -- 2021年12月6日
已獲點(diǎn)擊:
287
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

詳細(xì)介紹

價(jià)格:5800

SGW X-4B 顯微熔點(diǎn)儀 應(yīng)用范圍

測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。

SGW X-4B 顯微熔點(diǎn)儀 性能指標(biāo)

 ♦ 熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320℃

 ♦ zui小讀數(shù):0.1℃

 ♦ 測(cè)量重復(fù)性:

  ±1℃(在<200℃時(shí))

  ±2℃(在200~300℃時(shí))

 ♦ 配雙目體視顯微鏡

 ♦ 光學(xué)放大倍數(shù):40X-100X連續(xù)可調(diào)

 

 

 

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