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SGW X-4B-顯微熔點(diǎn)儀
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  • SGW X-4B-顯微熔點(diǎn)儀

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貨物所在地: 浙江杭州市
產(chǎn)地: 上海
更新時(shí)間: 2024-12-11 21:00:06
期: 2024年12月11日--2025年6月11日
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

應(yīng)用范圍: 應(yīng)用范圍:測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。

詳細(xì)介紹

SGW X-4B顯微熔點(diǎn)儀

應(yīng)用范圍:測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于藥物、化工、紡織、染料等晶體有機(jī)化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。

性能指標(biāo)

1、熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320

2、zui小讀數(shù):0.1

3、測(cè)量重復(fù)性:±1(在<200時(shí))

          ±2(在200300時(shí))

4、配雙目體視顯微鏡

5、光學(xué)放大倍數(shù):40X-100X連續(xù)可調(diào)

 

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