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產品簡介
詳細介紹
D型磁粉靈敏度試片
1、本試片系本公司按JB/T4730.4-2005中D型試片的要求制作
2、本試片用于連續(xù)法磁粉探傷時，驗證工作表面磁場強度的方向與大小，驗證磁粉探傷的綜合性能。
配套組成與規(guī)格
1、本試片包括D-7/50、D-15/50兩種規(guī)格。
2、試片的尺寸規(guī)格與對應的磁場強度
試片厚度： 均為50±5um
試片邊長： 均為10±0.5um
圓形人工槽直徑： 均為5±0.3um
十字人工槽長度： 均為3±0.2um
人 工 槽 寬 度： 60～180um
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| 人工槽深度 | 對應靈敏度 | 周向磁化規(guī)范及對應磁場強度 |
| D-7/50 | 7±1.0um | 高靈敏度 | （11～12）D3520～3840A/m（44～48 Oe） |
| D-15/50 | 15±2.0um | 低靈敏度 | （8 ～ 9）D2560～2880A/m（32～36 Oe） |
備注:表內周向磁化規(guī)范及對應磁場強度時對正火45號剛試樣的試驗結果，供參考。