I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測試片。用于:將激磁次數(shù)降至Z少,以提高生產(chǎn)效率;
確定磁場方向和相對的磁場強(qiáng)度;
平衡多向磁場。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測試片。用于:將激磁次數(shù)降至zui少,以提高生產(chǎn)效率;
確定磁場方向和相對的磁場強(qiáng)度;
平衡多向磁場。
小型I試片
與KSC-230相似,于工件上的小區(qū)域,每片上四個圓,可切割開,可單獨使用
件號:519631 型號:KSC-4-230小型I試片,每片上四個基圓,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.002英寸
產(chǎn)品關(guān)鍵字:KSC-4-230小型I試片