I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片。用于:將激磁次數(shù)降至Z少,以提高生產(chǎn)效率;
確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度;
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片。用于:將激磁次數(shù)降至zui少,以提高生產(chǎn)效率;
確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度;
平衡多向磁場(chǎng)。
標(biāo)準(zhǔn)I試片
缺陷成基園和十字交叉條形,用于縱向和軸向磁場(chǎng)。
件號(hào):521048 型號(hào):KSC-430 標(biāo)準(zhǔn)I試片,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.004英寸
產(chǎn)品關(guān)鍵字:KSC-430 標(biāo)準(zhǔn)I試片