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[供應(yīng)]KSC-430-標(biāo)準(zhǔn)QQI試片(美國(guó)磁通)
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  • KSC-430-標(biāo)準(zhǔn)QQI試片(美國(guó)磁通)
貨物所在地:
上海上海市
更新時(shí)間:
2022-01-08 21:00:38
有效期:
2022年1月8日 -- 2022年7月8日
已獲點(diǎn)擊:
147
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I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片。用于:將激磁次數(shù)降至Z少,以提高生產(chǎn)效率;
確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度;

詳細(xì)介紹

I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片。用于:將激磁次數(shù)降至zui少,以提高生產(chǎn)效率;
確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度;
平衡多向磁場(chǎng)。
標(biāo)準(zhǔn)I試片
缺陷成基園和十字交叉條形,用于縱向和軸向磁場(chǎng)。
件號(hào):521048 型號(hào):KSC-430 標(biāo)準(zhǔn)I試片,缺陷深度為試片厚度的30%,試片厚度為0.004英寸
產(chǎn)品關(guān)鍵字:
KSC-430 標(biāo)準(zhǔn)I試片

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