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分光光度計分析法是基于不同分子結構的物質對電磁輻射選擇性吸收而建立的分析方法。
應用電磁輻射波譜區(qū)通常在200nm～800nm為紫外可見分光光度計。
采用微處理機控制技術，在紫外可見光譜區(qū)域內對物質作定性、定量分析，是常規(guī)實驗室*的多用途分析儀器。
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
752N紫外可見分光光度計基本原理：
分光光度計分析法是基于不同分子結構的物質對電磁輻射選擇性吸收而建立的分析方法。
應用電磁輻射波譜區(qū)通常在200nm～800nm為紫外可見分光光度計。
采用微處理機控制技術，在紫外可見光譜區(qū)域內對物質作定性、定量分析，是常規(guī)實驗室*的多用途分析儀器。
752N紫外可見分光光度計特點：
采用*的全息閃耀光柵單色器，具有波長精度高，單色性好，雜散光低等優(yōu)點。
超大屏幕帶背光液晶顯示器，測量數(shù)據(jù)一目瞭覽
采用微機測量系統(tǒng)，T-A轉換精度高，并有自動調0%T和調*T，濃度因子設定、濃度直讀。
測量讀數(shù)準確性高，重現(xiàn)性好和穩(wěn)定性佳。
可選配串行打印機和與軟件UVWin7配合使用，拓展儀器的使用功能。
UVWin7軟件包（另購）。
752N紫外可見分光光度計主要技術指標:
波長范圍；200nm～1000nm
波長zui大允許誤差：±2nm
波長重復性：≤1nm
透射比zui大允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
透射比重復性：≤0.2%（T）
光譜帶寬：4nm
雜散光：≤0.3%（T）（在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定）
穩(wěn)定性:暗電流漂移：0.2%（T）/3min 亮電流漂移：0.5%（T）/3min
其它：
儀器尺寸和重量：500mm×350mm×190mm 14kg
產(chǎn)品關鍵字：752N紫外可見分光光度計 紫外分光光度計