當(dāng)前位置:HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部>>技術(shù)文章>>HORIBA | 報(bào)計(jì)劃指南 | 半導(dǎo)體材料表征技術(shù)推薦
HORIBA | 報(bào)計(jì)劃指南 | 半導(dǎo)體材料表征技術(shù)推薦
>>>> HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部
結(jié)合旗下具有200多年歷史品牌 Jobin Yvon 光譜技術(shù),HORIBA Scientific 一直致力于為科研及工業(yè)用戶提供先進(jìn)的檢測(cè)和分析工具及解決方案,如:光學(xué)光譜、分子光譜、元素分析、材料表征及表面分析等先進(jìn)檢測(cè)技術(shù)。如今,HORIBA 高品質(zhì)科學(xué)儀器已成為科研、各行業(yè)研發(fā)及質(zhì)量控制的優(yōu)先選擇,今后我們將繼續(xù)專注科研領(lǐng)域,持續(xù)為用戶提供更好的服務(wù)。
如果您想了解更多關(guān)于產(chǎn)品儀器信息、索要儀器報(bào)價(jià),歡迎掃描二維碼留言,我們的工程師將會(huì)及時(shí)與您取得聯(lián)系。