HORIBA參展的SEMICON China 2018

     自1988年在上海舉辦以來，SEMICON China已成為中國首要的半導(dǎo)體行業(yè)盛事之一，囊括當(dāng)今世界上半導(dǎo)體制造領(lǐng)域主要的設(shè)備及材料廠商。可以說，SEMICON China見證了中國半導(dǎo)體制造業(yè)茁壯成長，加速發(fā)展的歷史。

  本屆SEMICON China于3月14日在上海開幕，HORIBA也前來參加這一盛會，力求在追求率的半導(dǎo)體行業(yè)中，為科研及工業(yè)用戶提供先進(jìn)的檢測和分析工具，并提供解決方案。

  HORIBA作為有著近200年光學(xué)、光譜經(jīng)驗的老品牌，非常注重行業(yè)間合作，以推動不同領(lǐng)域的科研技術(shù)發(fā)展以及成果轉(zhuǎn)化，譬如：HORIBA的輝光放電光譜技術(shù)就可用于半導(dǎo)體材料中鍍層的深度剖析；橢圓偏振光譜技術(shù)可用于薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)表征及工藝對鍍層的影響分析；拉曼光譜技術(shù)可用于半導(dǎo)體芯片缺陷分析診斷等。

  本次盛會，HORIBA專設(shè)展臺，與科研專家及廠商面對面交流。如果您有任何疑惑或需求，歡迎光臨我們的展臺，HORIBA的銷售和技術(shù)人員會給您提供專業(yè)的建議及解決方案。

附展會詳細(xì)信息如下：

展出時間：2018年3月14日-16日

展出地點：上海新博覽中心

HORIBA展位號：N2館 No.2601

>>>>HORIBA科學(xué)儀器事業(yè)部

結(jié)合旗下具有近 200 多年發(fā)展歷史的 Jobin Yvon 光學(xué)光譜技術(shù)，HORIBA Scientific 致力于為科研及工業(yè)用戶提供先進(jìn)的檢測和分析工具及解決方案。如：光學(xué)光譜、分子光譜、元素分析、材料表征及表面分析等先進(jìn)檢測技術(shù)。今天HORIBA 的高品質(zhì)科學(xué)儀器已經(jīng)成為科研、各行業(yè)研發(fā)及質(zhì)量控制的。