等離子體分析飛行時(shí)間質(zhì)譜儀（pp-tofms）是一款新型材料表征技術(shù)，用于超快速、元素組分的深度剖析。

此次網(wǎng)絡(luò)講座將通過諸多實(shí)例為您展示研發(fā)過程中pp-tofms從薄膜和器件的生長(zhǎng)到加工中表現(xiàn)的分析潛力。

加入會(huì)議，你將：

• 熟識(shí)pp-tofms的基本特征（分析速度、靈敏度和分辨率）

• 了解pp-tofms和目前熟知的表面化學(xué)分析技術(shù)（如xps, sims, sem-edx, rbs）間的互補(bǔ)性

• 了解pp-tofms在快速表面&深度分析中的強(qiáng)大功能

誰需要參加？

• 從事材料研究的學(xué)術(shù)專家及研發(fā)工程師，如半導(dǎo)體、微電子、光電及光伏材料研究

• 計(jì)量管理人員及計(jì)量工程師；表面分析專家；xps、sims、aes用戶等

講師

agnès tempez, phd

pp-tofms產(chǎn)品，horiba scientific

yann mazel

計(jì)量工程師

emmanuel nolot, phd

計(jì)量師，cea-leti

時(shí)間

4月4日 星期二

10:00  am / 5:00 pm（歐洲夏令）

報(bào)名

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• ：33-169747200

• ：live-sci.fr@horiba.com

horiba optical school

horiba一直致力于為用戶普及光譜基礎(chǔ)知識(shí)，其旗下的jobin yvon有著近200年的光學(xué)、光譜經(jīng)驗(yàn)，我們非常樂意與大家分享這些經(jīng)驗(yàn)，為此特創(chuàng)立 optical school（光譜學(xué)院）。無論是剛接觸光譜的學(xué)生，還是希望有所建樹的研究者，都能在這里找到適合的資料及課程。 

我們希望通過這種分享方式，使您對(duì)光學(xué)及光譜技術(shù)有更系統(tǒng)、全面的了解，不斷提高儀器使用水平，解決應(yīng)用中的問題，進(jìn)而提升科研水平，更好地探索未知世界。