橢圓偏振光譜儀主要適用于科研院所的信息光電子功能薄膜、體材料的光學(xué)性質(zhì)和結(jié)構(gòu)特性研究，可被研究材料種類包括：金屬和合金、元素和化合物半導(dǎo)體、絕緣體、超導(dǎo)體、磁性和磁光材料、有機材料、太陽能薄膜、多層薄膜材料、液體材料等。在測量中，可按研究條件同時對入射角和波長進行自動精細掃描，從而增加研究的靈活性，便于用戶獲得更多的光譜信息進行數(shù)據(jù)分析，提高研究的質(zhì)量和可靠性，并實現(xiàn)無接觸無損傷測量。

 

    橢圓偏振光譜儀的性能指標達均已達到同類技術(shù)的先進水平，產(chǎn)品國內(nèi)及海外市場。

 

橢圓偏振光譜儀主要特點

 

    WINXP友好操作界面

    實測光學(xué)常數(shù)種類：復(fù)折射率、復(fù)介電函數(shù)、吸收系數(shù)、反射率。

 

橢圓偏振光譜儀主要用途

 

    1.各種功能材料的光學(xué)常數(shù)測量和光譜學(xué)特性分析；

    2.測量薄膜材料的折射率和厚度；測量對象包括：金屬、半導(dǎo)體、超導(dǎo)體、絕緣體、非晶體、超晶格、磁性材料、光電材料、非線性材料；測量光學(xué)常數(shù)：復(fù)折射率的實虛部、復(fù)介電常數(shù)的實虛部、吸收系數(shù)a、反射率R。