Partica發(fā)展成就

業(yè)界zui激光粒度儀產品，以精確可靠著稱的HORIBA Partica LA-950V2已全新升級為LA-960。

HORIBA系列粒度儀以在亞微米范圍內的*測量能力而聞名，新型號除了保有這一優(yōu)勢還發(fā)展出全新的特性。

HORIBA依據(jù)多年經驗，進一步完善數(shù)據(jù)運算方法，以不斷滿足用戶對更高精度和更高分辨率的追求。

技術*性能

zui寬的動態(tài)測量范圍：0.01-5000微米

HORIBA在寬粒徑范圍測量方面優(yōu)勢明顯，*的光學布局，采用三維數(shù)據(jù)模擬生成散射光譜圖，可以與充分考慮到光學組件參數(shù)影響的理論計算結果進行比較，從而選擇*的分析方法。

新的運算方法使得20nm的認證樣品的測量成為可能（見下圖）。

性能保證

· 高精度 ±0.6%

· 標準依據(jù)ISO13320

· 可溯源支持

用戶*的品質

HORIBA一直專注于儀器zui重要zui關鍵部件的產品質量：光源和檢測器校準?；诟呖萍佳芯繉嶒炇液唾|量控制管理等各種用戶的需求，其循環(huán)系統(tǒng)效率高，操作快速，維護簡便。同時我們根據(jù)用戶預期用途，分析情況和操作頻率的不同，提供專業(yè)的售后。

穩(wěn)健可靠的光學設計：*的光學系統(tǒng)確保高精度分析

60秒速操作：循環(huán)系統(tǒng)能迅速處理任何樣品

Partica發(fā)展成就

業(yè)界zui激光粒度儀產品，以精確可靠著稱的HORIBA Partica LA-950V2已全新升級為LA-960。

HORIBA系列粒度儀以在亞微米范圍內的*測量能力而聞名，新型號除了保有這一優(yōu)勢還發(fā)展出全新的特性。

HORIBA依據(jù)多年經驗，進一步完善數(shù)據(jù)運算方法，以不斷滿足用戶對更高精度和更高分辨率的追求。

技術*性能

zui寬的動態(tài)測量范圍：0.01-5000微米

HORIBA在寬粒徑范圍測量方面優(yōu)勢明顯，*的光學布局，采用三維數(shù)據(jù)模擬生成散射光譜圖，可以與充分考慮到光學組件參數(shù)影響的理論計算結果進行比較，從而選擇*的分析方法。

新的運算方法使得20nm的認證樣品的測量成為可能（見下圖）。

性能保證

· 高精度 ±0.6%

· 標準依據(jù)ISO13320

· 可溯源支持

用戶*的品質

HORIBA一直專注于儀器zui重要zui關鍵部件的產品質量：光源和檢測器校準。基于高科技研究實驗室和質量控制管理等各種用戶的需求，其循環(huán)系統(tǒng)效率高，操作快速，維護簡便。同時我們根據(jù)用戶預期用途，分析情況和操作頻率的不同，提供專業(yè)的售后。

穩(wěn)健可靠的光學設計：*的光學系統(tǒng)確保高精度分析

60秒速操作：循環(huán)系統(tǒng)能迅速處理任何樣品