UHV-KP020超高真空掃描開爾文探針

開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢(shì)，表面功函由材料表面zui頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界zui高分辨率的測(cè)試系統(tǒng)
UHV-KP020 是超高真空室的一個(gè)*補(bǔ)充工具，可靠的和可重復(fù)的可輕松獲得，包括高質(zhì)量的線性*，使得探針和樣品的定位變得簡(jiǎn)單， 的跟蹤系統(tǒng)在測(cè)試過程中始終將探針和樣品恒定的分開。對(duì)于薄膜研究，亞單層范圍檢測(cè)是很平常的；也可選購(gòu)SPV020或SPS030表面光電壓模塊用于光敏材料研究。

技術(shù)參數(shù)：
● 功函分辨率1-3meV（2-10mm探針）
● 用戶自定針尺寸（2-10mm）
● 用戶自定探針長(zhǎng)度（法蘭到樣品）
● DN40（2.75''安裝端口）-其他可選
● 50mm手動(dòng)平移器（100mm可選）
● 真空度2X10-11mbar
● 跟蹤系統(tǒng)自動(dòng)控制樣品和探針距離
● 過零信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)抑制寄生電容
選件：
● 電動(dòng)平移器
● UHVSKP
● 表面光電壓模塊SPV020和SPS030