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目錄:天津市拓普儀器有限公司>>物理教學儀器>>導軌及光具座綜合實驗>> WSY-2型干涉測量實驗裝置

干涉測量實驗裝置
  • 干涉測量實驗裝置
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 品牌 TP/拓普
  • 型號 WSY-2型
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 天津市
屬性

產地類別:國產 應用領域:綜合

>

更新時間:2024-12-18 10:27:22瀏覽次數(shù):3297評價

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產地類別 國產 應用領域 綜合
該儀器主要利用導軌、支架及光學組件、如雙棱鏡分成兩束光,將兩束光相遇產生的明暗相間的干涉條紋用讀數(shù)顯微鏡測出條紋間距

產品詳細資料

   該儀器主要利用導軌、支架及光學組件、如雙棱鏡分成兩束光,將兩束光相遇產生的明暗相間的干涉條紋用讀數(shù)顯微鏡測出條紋間距,再用二次成像繪測出一大、一小兩個縫像(即虛光源S1、S2)之間的距離代入公式即可。


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