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目錄:天津市拓普儀器有限公司>>物理教學(xué)儀器>>工程光學(xué)實(shí)驗(yàn)>> WSG-1型電子散斑干涉(ESPI)實(shí)驗(yàn)裝

電子散斑干涉(ESPI)實(shí)驗(yàn)裝
  • 電子散斑干涉(ESPI)實(shí)驗(yàn)裝
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 TP/拓普
  • 型號(hào) WSG-1型
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 天津市
屬性

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更新時(shí)間:2024-12-18 14:28:37瀏覽次數(shù):4286評(píng)價(jià)

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應(yīng)用領(lǐng)域 綜合
本實(shí)驗(yàn)裝置主要面向大專院校教學(xué)使用。本實(shí)驗(yàn)是用激光光束直接照射到測(cè)試表面,再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋,以測(cè)定其離面位移的新型,先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)。本實(shí)驗(yàn)裝置可以使學(xué)生了解其原理和測(cè)量的方法。該實(shí)驗(yàn)裝置具有機(jī)構(gòu)簡(jiǎn)單、精度高、靈敏性好、非接觸、無(wú)需暗房操作,實(shí)時(shí)顯示全場(chǎng)信息及處理信息快等優(yōu)點(diǎn),故而應(yīng)用廣泛,如物體形變測(cè)量、無(wú)損測(cè)量、震動(dòng)測(cè)量等。

產(chǎn)品詳細(xì)資料

本實(shí)驗(yàn)裝置主要面向大專院校教學(xué)使用。本實(shí)驗(yàn)是用激光光束直接照射到測(cè)試表面,再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋,以測(cè)定其離面位移的新型,先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)。本實(shí)驗(yàn)裝置可以使學(xué)生了解其原理和測(cè)量的方法。
  該實(shí)驗(yàn)裝置具有機(jī)構(gòu)簡(jiǎn)單、精度高、靈敏性好、非接觸、無(wú)需暗房操作,實(shí)時(shí)顯示全場(chǎng)信息及處理信息快等優(yōu)點(diǎn),故而應(yīng)用廣泛,如物體形變測(cè)量、無(wú)損測(cè)量、震動(dòng)測(cè)量等。


  1. 自己調(diào)節(jié)光路,可提高動(dòng)手能力

  2. 采用了處理光學(xué)信息的CCD測(cè)量技術(shù)

  3. 計(jì)算機(jī)處理圖象,軟件操作簡(jiǎn)便

  4. 可利用軟件畫出測(cè)試表面受力變形后的三維立圖


CCD攝像機(jī)(帶電源)、氦氖激光器、圖象采集卡、圖象處理軟件、精密調(diào)整架、分束鏡、擴(kuò)束鏡、準(zhǔn)直鏡、聚焦透鏡、平面反射鏡、偏振片、被測(cè)物品等


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