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JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射電子顯微鏡

參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào):

品       牌:其他品牌

廠(chǎng)商性質(zhì):經(jīng)銷(xiāo)商

所  在  地:長(zhǎng)沙市

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更新時(shí)間:2023-12-20 15:00:32瀏覽次數(shù):2830次

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應(yīng)用領(lǐng)域 電子,交通,航天,汽車(chē),電氣
JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射電子顯微鏡標(biāo)配了冷場(chǎng)發(fā)射電子槍和全新的高階球差校正器。無(wú)論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下,均能實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率的觀(guān)察與分析。同時(shí)還配備了自動(dòng)像差校正系統(tǒng),采用像差校正算法,可以自動(dòng)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的像差校正。由此實(shí)現(xiàn)了高通量的原子級(jí)分辨率成像。
  JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射電子顯微鏡標(biāo)配了冷場(chǎng)發(fā)射電子槍和全新的高階球差校正器。無(wú)論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下,均能實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨率的觀(guān)察與分析。同時(shí)還配備了自動(dòng)像差校正系統(tǒng),采用像差校正算法,可以自動(dòng)進(jìn)行快速準(zhǔn)確的像差校正。由此實(shí)現(xiàn)了高通量的原子級(jí)分辨率成像。此外,新型STEM檢測(cè)器不依賴(lài)于加速電壓就可以獲得高襯度的輕元素圖像。因此,利用能增強(qiáng)輕元素襯度的新STEM成像技術(shù)可以更加簡(jiǎn)便地觀(guān)察到含有輕元素樣品的高清晰(襯度)圖像。
 
  JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射電子顯微鏡配備的新型球差校正器ASCOR能夠校正高階像差(即6重像散,目前阻礙透射電鏡分辨率進(jìn)一步提高的大障礙。),ASCOR和Cold-FEG的*組合實(shí)現(xiàn)了從高加速電壓到低加速電壓下的高分辨率。JEOL COSMO™采用了全新像差校正算法,校正像差不需要交換標(biāo)準(zhǔn)樣品也可以快速精確地校正至高階像差。與采用傳統(tǒng)校正算法的系統(tǒng)相比,JEOL CMSMO™能夠高速處理數(shù)據(jù),并且使操作進(jìn)一步自動(dòng)化。因此,客戶(hù)在工作流程中可以簡(jiǎn)便高效地進(jìn)行高分辨率觀(guān)察及各種元素分析。
掃描/透射電子顯微鏡

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