Chroma 3240-Q 無線射頻分類機(jī)也可依據(jù)測(cè)試需求支援各種不同類型封裝的晶片。具有自動(dòng)送料/分料盤設(shè)計(jì), 3240-Q適 用于JEDEC和EIA料盤規(guī)范。另有選配的加強(qiáng)溫控的測(cè)試能力, 可提供高達(dá)150℃之高溫測(cè)試環(huán)境。是一臺(tái)創(chuàng)新、整合了射頻和無線隔離室之自動(dòng)分類機(jī)。此機(jī)臺(tái)配置多達(dá)八個(gè)測(cè)試 站點(diǎn)和獨(dú)立的隔離作平行測(cè)試。 3240-Q具有順暢的自動(dòng)化測(cè)試,、精確的Pick & Place技術(shù)、彈 性的多測(cè)點(diǎn)架構(gòu)、高產(chǎn)能和低Jam Rate等優(yōu)勢(shì)，適用于射頻和無線晶片測(cè)試。

Chroma 3240-Q 無線射頻分類機(jī)的特色：

• 符合成本效益的RF整合方案
• 客制RF隔離室和整合Tester安裝
• 可調(diào)整測(cè)試間距至120mm
• 具有八個(gè)平行測(cè)試站點(diǎn)
• 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到45x45 mm
• 精確的定位能力
• 支援JEDEC和EIA料盤