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[供應(yīng)]Equotip 550 Portable Rockwell
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  • Equotip 550 Portable Rockwell
貨物所在地：
北京北京市
產(chǎn)地：
北京
更新時間：
2021-07-14 21:00:12
有效期：
2021年7月14日 -- 2022年1月14日
已獲點(diǎn)擊：
84
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產(chǎn)品簡介

Equotip 550 Portable Rockwell
　　用于刮擦敏感、拋光及細(xì)小部件的 Portable Rockwell 硬度檢測儀。它通過微米級的細(xì)小穿透能力及卓-越的靈敏度。堅固的觸摸屏帶有增強(qiáng)的軟件應(yīng)用和分析功能。
　　尤其適合對刮擦敏感且拋光的部件或細(xì)小部件、剖面和管道?？煽坑捕茸x數(shù)所要求的低厚度是十倍壓入深度。對于質(zhì)量，沒有低要求。

詳細(xì)介紹

Equotip 550 Portable Rockwell

Equotip 550 Portable Rockwell

　　用于刮擦敏感、拋光及細(xì)小部件的 Portable Rockwell 硬度檢測儀。它通過微米級的細(xì)小穿透能力及卓-越的靈敏度。堅固的觸摸屏帶有增強(qiáng)的軟件應(yīng)用和分析功能。

性能與優(yōu)點(diǎn)

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于細(xì)小部件

　　尤其適合對刮擦敏感且拋光的部件或細(xì)小部件、剖面和管道?？煽坑捕茸x數(shù)所要求的低厚度是十倍壓入深度。對于質(zhì)量，沒有低要求。
 http://www.wb-instru.com/userfiles/images/%E4%BE%BF%E6%90%BA%E5%BC%8F%E7%A1%AC%E5%BA%A6%E8%AE%A1/%E5%BE%AE%E4%BF%A1%E5%9B%BE%E7%89%87_20170726141333.png

適用于各種樣品幾何體

　　探頭可以利用*的測量夾和支撐腳對各種幾何體進(jìn)行檢測。 
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硬度單位眾多

　　以HRC和HV為單位的測量可自動轉(zhuǎn)換為 HB、HRA、HRB 以及更多符合 ASTM E140 和 ISO 18265 標(biāo)準(zhǔn)的通用單位。
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適用于任何環(huán)境

　　Equotip 550 Portable Rockwell 可用于現(xiàn)場、工廠和實驗室環(huán)境，幾乎無任何限制。
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Rockwell 測量原理

　　Equotip Portable Rockwell 的測量原理沿用傳統(tǒng)的洛氏硬度靜態(tài)檢測法。使用 Equotip Portable Rockwell 探頭測量期間，使用準(zhǔn)確的控制力將金剛石壓頭壓入待測件中。在施加負(fù)載并釋放的同時，連續(xù)測量金剛石壓頭的壓入深度。通過記錄施加兩個限定負(fù)載時的壓入深度 d1 和 d2 來計算差異：Δ = d2 – d1。這通常稱為塑性變形。
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圓形標(biāo)準(zhǔn)腳（磁性）

　　適用于扁平部件和邊緣距離大于 10mm 的檢測位置。
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三腳架的腳

　　專為要求精確定位的檢測件（焊接、受熱區(qū)域）而設(shè)計。
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特殊腳 RZ 18-70 和 70-∞

　　專為彎曲的測試件（例如圓柱形部件、管子、導(dǎo)管）而設(shè)計。

優(yōu)勢

  • 與 Leeb 和 UCI 相結(jié)合
  • 與固定式 Rockwell 硬度檢測儀同樣可靠、準(zhǔn)確和標(biāo)準(zhǔn)化，但比之更快 
  • 內(nèi)置強(qiáng)大的報告功能，隨時準(zhǔn)備好可用的數(shù)據(jù)資料

 

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